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![AlGaN日盲p-i-n型FPA探測(cè)器關(guān)鍵工藝技術(shù)的研究.pdf_第1頁(yè)](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/16/16/91da9119-b15f-4bd6-b0e3-2ba8e0392807/91da9119-b15f-4bd6-b0e3-2ba8e03928071.gif)
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1、鋁鎵氮(AlGaN)材料是GaN材料的三元合金,它屬于寬禁帶直接帶隙半導(dǎo)體,物理、化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定,其禁帶寬度隨材料中Al組分由0到1的變化在3.4~6.2ev之間連續(xù)變化,對(duì)應(yīng)可吸收光的長(zhǎng)波限在200~365nm之間變化。其中240~280nm波段是日光盲區(qū),因此AlGaN是制作日光盲(日盲)紫外探測(cè)器的理想材料,可廣泛應(yīng)用于導(dǎo)彈尾焰探測(cè)、火災(zāi)監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。
一般探測(cè)器的研究包括以下幾個(gè)方面:器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、外延材料生長(zhǎng)、工藝技術(shù)研
2、究、器件制作及測(cè)試。本文的重點(diǎn)研究?jī)?nèi)容為:高 Al組分 n型 AlGaN(n-AlGaN)材料MOCVD生長(zhǎng)的研究、高Al組分n-AlGaN歐姆接觸技術(shù)的研究,另外還對(duì)制作出的320×256元AlGaN日盲p-i-n型焦平面陣列(FPA)探測(cè)器樣品進(jìn)行了性能測(cè)試與分析。
文章首先研究高Al組分n-AlGaN材料MOCVD生長(zhǎng)。主要通過(guò)對(duì)高溫AlN和AlxGa1-xN/AlN超晶格緩沖層的研究,優(yōu)化n-AlGaN材料的生長(zhǎng),研究
3、生長(zhǎng)出鋁組分為0.6的n-AlGaN材料,得到它的n型載流子濃度為6.9×1018cm-3、室溫載流子遷移率為49.0cm2/v.s,滿足器件制作要求。
其次,利用圓形傳輸線模型(CTLM)進(jìn)行了大量n-Al0.6Ga0.4N歐姆接觸實(shí)驗(yàn)研究,歐姆接觸金屬方案為:Ti(20nm)/Al(200nm)。重點(diǎn)研究快速熱退火處理對(duì)Ti/Al/n-Al0.6Ga0.4N歐姆接觸的影響,并對(duì)退火工藝條件進(jìn)行了優(yōu)化。在制作歐姆接觸金屬薄膜
4、之前對(duì)樣品進(jìn)行表面預(yù)處理,處理?xiàng)l件如下:使用丙酮、酒精去油污各清洗5分鐘,用去離子水洗凈,再放入王水中煮沸20分鐘去除表面活性氧化物;金屬層制作完成后,對(duì)樣品進(jìn)行一系列快速熱退火處理實(shí)驗(yàn),結(jié)果得到Ti/Al/n-Al0.6Ga0.4N歐姆接觸的最優(yōu)退火條件為:在氮?dú)猓∟2)氣氛下、670℃、120秒的快速熱退火處理,得到此時(shí)比接觸電阻率為2.95×10-4Ω·cm2。
最后對(duì)制作的探測(cè)器樣品進(jìn)行電學(xué)、光譜響應(yīng)及成像測(cè)試,測(cè)試結(jié)
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