1、QIT培訓系列教材-----SPC,Prepare by : Robin MuQS Section, QS Division, IPT July 24th, 2007,,教材編號:IPT-M2XXX版本:V1.0版,,,會簽單位,,核準: 部級主管 擬制人: Robin Mu,Prepared byRobin Mu,Page 3,,1.教材初版,修訂紀錄,,Prepared byRobin Mu,P

2、age 4,目 錄,Item,No.,Page,,Link,,,,,,1. 基礎理論2. 統(tǒng)計基礎知識 3. 制程變異的原因 4. 制程能力分析

3、 5. SPC的工具---管制圖 6. SPC的運作流程,51224305484,Prepared byRobin Mu,Page 5,,1.1. 品質過程與不良率之演進,1. 基礎理論,Prepared byRobin Mu,Page 6,常規(guī)管制方法----檢驗,1.2. 傳統(tǒng)品質

4、觀念與目前品質觀念的差別,Prepared byRobin Mu,Page 7,當一個設備由100個部件組成，即使每一個部件的合格率爲99.97%，設備的合格率也僅爲99.97%×????×99.97%=76.31%當該設備由500個部件組成，則該設備的合格率僅爲25.83%,99.97%的合格率是否足夠?,每一個部件的合格率均爲99.97%,Prepared byRobin Mu,Page 8,,,,下限,上

5、限,,,無缺陷,門柱思維,傳統(tǒng)的品質概念,Prepared byRobin Mu,Page 9,Prepared byRobin Mu,Page 10,1.3.1. 1924年Walter Shewhart博士在貝爾實驗室開發(fā)了一套 統(tǒng)計學流程控制理論;1.3.2. 上世紀20年代期間, Shewhart博士在一系列演講中提出 了他的理論, 并在高品質制造產品的經濟性控制一書中

6、 發(fā)表(1931);1.3.3. 1939年Shewhart與戴明合寫了“品質觀點的統(tǒng)計方法”;1.3.4. 上世紀40年代期間, 戰(zhàn)時生產使該理論得到廣泛的應用;1.3.5. 1950年戴明到日本講學, 介紹SQC觀念及方法, SQC是 發(fā)現問題才解決, 浪費較大, 後來發(fā)展出了SPC;1.3.6. 美國汽車業(yè)廠商對SPC非常重視, 並使之得到廣泛應用;1.3.7. ISO9000也十分重視SPC的

7、應用, 對其有專門章節(jié)要求.,1.3. SPC的歷史,Prepared byRobin Mu,Page 11,1.4. SPC的定義,統(tǒng)計過程控制(SPC)是基於統(tǒng)計原理, 利用圖形技術, 對 流程中關鍵(質量)特性進行監(jiān)控, 並通過判定準則, 及時顯示 異常, 從而達到發(fā)現問題、預防不良產生的一種管理工具. SPC能夠將海量數據中的異常通過圖形直觀展現出來, 適用

8、於各種須投入大量資源, 要長期管控的流程或特性. SPC有以下作用: A. 確保制程持續(xù)穩(wěn)定、可預測; B. 提高產品質量、生產能力、降低成本; C. 為制程分析提供依據; D. 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因, 作為采取局部措施 或對系統(tǒng)采取措施的指南.

9、,,Prepared byRobin Mu,Page 12,,2. 統(tǒng)計基礎知識,2.1. 正態(tài)分布,Prepared byRobin Mu,Page 13,測定的平均值(x)與群體平均值(µ)一致; 曲線的最高點與橫軸垂直相交處, 即為群體平均值(µ)以此點為中心, 其曲線左右兩邊對稱;C. 正態(tài)分布左右兩尾與橫軸漸漸靠近, 但不與橫軸相交;D. 曲線下橫軸上之面積等於“1”, 曲線下橫

10、軸上之面積分布情況為:　 (µ-σ)至(µ＋σ)範圍內的面積約占總面積的68.27%; (µ-2σ)至(µ＋2σ)範圍內的面積約總占面積的95.45%; (µ-3σ)至(µ＋3σ)範圍內的面積約占總面積的99.73%.,Prepared byRobin Mu,Page 14,2.2. 數據的類別,2.2.1. 連續(xù)型數據,Prepared byR

11、obin Mu,Page 15,2.2.2. 離散型數據,Prepared byRobin Mu,Page 16,“母體”是指組成某一特定群體的全部單位, 有時母體大到 無法測量. “樣本”是指該特定母體中的某些單位, 要求母體中的每一個 單位都有同等機會被用來測量, 即樣本必須是隨機的.,2.3.1. 母體vs樣本,2.3. 抽樣,Prepared byRobin Mu,Page 17,隨機抽樣: 每個均有被選上的

12、相等機會,2.3.2. 抽樣方法,Prepared byRobin Mu,Page 18,這樣不是隨機抽樣!!!,Prepared byRobin Mu,Page 19,層別式抽樣: 母體被“層別”成幾個組, 在每個組內隨機選擇.,Prepared byRobin Mu,Page 20,系統(tǒng)隨機抽樣: 每隔n個抽取一個樣本.,Prepared byRobin Mu,Page 21,行進中的過程,,分組抽樣: 每小時在該點抽3個樣

13、本.,Prepared byRobin Mu,Page 22,計數數據: 一般情況下取50~100個計量數據: 每個分組最少30個,2.3.3. 抽樣的一般準則,Prepared byRobin Mu,Page 23,2.4. SPC相關術語,2.4.1 Xi: 實測數據, X1…X5 是指一個樣組中的5個實測數據;2.4.2 Xbar: 表示n個數據的平均值, 即: Xbar=(X1…+Xn)/n;2.4.3 T: 表

14、示公差值, 即: 公差值=規(guī)格最大值–規(guī)格最小值 (T=USL–LSL);2.4.4 μ: 表示規(guī)格中心值;2.4.5 R: 極差值, 即:極差值=樣組中之最大值–樣組中最小值;2.4.6 Rm: 表示樣組之極差值, 即: 第二組Rm值=第二組X值 –第一組X值, 依此類推;2.4.7 Cpk: 表示制程能力指數;2.4.8 S: 樣本標準差.,,Prepared byRob

15、in Mu,Page 24,,3. 制程變異的原因,普通原因: 是造成隨著時間推移具有穩(wěn)定的且可重復的分布 過程中的許多變差的原因, 我們稱之為“處于統(tǒng)計控制狀態(tài)”、 “受統(tǒng)計控制”, 或有時簡稱“受控”, 普通原因表現為一個穩(wěn)定 系統(tǒng)的偶然原因. 只有變差的普通原因存在且不改變時, 過 程的輸出才可以預測.特殊原因: 是造成不是始終作用于過程變差的原因, 即當它們 出現時將造成過程的分布改變. 除非所有

16、的特殊原因都被查 找出來并且采取了措施, 否則它們將繼續(xù)用不可預測的方式 來影響過程的輸出. 如果系統(tǒng)內存在變差的特殊原因, 隨時間 的推移, 過程的輸出將不穩(wěn)定.,Prepared byRobin Mu,Page 25,Prepared byRobin Mu,Page 26,Prepared byRobin Mu,Page 27,Prepared byRobin Mu,Page 28,,,,,,,局部措施和系

17、統(tǒng)措施,局部措施通常用來消除變差的特殊原因通常由與過程直接相關的人員實施大約可糾正15%的過程問題對系統(tǒng)采取措施通常用來消除變差的普通原因幾乎總是要求管理措施，以便糾正大約可糾正85%的過程問題,Prepared byRobin Mu,Page 29,局部措施、系統(tǒng)措施示意圖,解決普通原因的系統(tǒng)措施,解決異常原因的局部措施,解決異常原因的局部措施,,Prepared byRobin Mu,Page 30,制程能

18、力是工序在管制狀態(tài)時, 其工序生產的產品品質變化有多少程度的值, 或指在管制狀態(tài)(穩(wěn)定狀態(tài))下, 工序能制造出來的品質水平的程度.而制程能力分析是指針對一個過程, 在滿足顧客的期望上,表現得有多好的一種研究.,4. 制程能力分析,4.1 制程能力的定義,,Prepared byRobin Mu,Page 31,短期制程能力 短期制程能力是隻存在偶然原因時的制程能力, 表示取樣 數據都具有同樣的品質特性, 但有主要技術要

19、素引起品質 特性變化, 因此品質特性變化越大, 散布也就越大, 短期 制程能力也就越差. 長期制程能力 長期制程能力是包括組內誤差和組間誤差, 為了改善技術 和工序管理, 必須判斷工序是否穩(wěn)定時, 用長期制程能力 的特性來取樣, 來確認包括管理要素引起的變化和技術的 要素引起的變化.,Prepared byRobin Mu,Page 32,制程能力隨時間的延續(xù),平均值及分布形狀產生變化稱為偏移/

20、漂移現象.,偏移是制程的突然變化.漂移是制程隨時間緩慢發(fā)生的變化.,Prepared byRobin Mu,Page 33,收集過程數據是為了對過程進行分析和研究, 並為最終進行 過程改善做好準備. 如何收集數據才能保証所收集的數據能 代表整個過程的現狀、並保証過程的短期和長期能力都能夠 被評估? 合理分組是收集數據的一種策略, 通過合理分組可區(qū)分短期 和長期誤差

21、, 從而可以確認過程目前的問題是技術實力不夠 (Zst太小), 還是控制水平差(Zst與Zlt差異太大),4.2.1 合理分組(Rational Subgroups)的目的,4.2 數據收集策略,在收集過程數據時, 我們一般會收集較長時間范圍內的很多 組數據(因為數據收集太少, 不能把握過程的現狀全貌). 收集數據時, 要求每組內的數據隻包含偶然原因誤差, 組與組 之間存在異

22、常原因誤差和偶然原因誤差, 這樣收集的數據可 對過程的長期能力和短期能力分別作出評估.,4.2.2 組內誤差和組間誤差,Prepared byRobin Mu,Page 34,,組內誤差和組間誤差,,,,,,,,,,,Process Response,Time,,,,,,組間誤差,,,,,組內誤差,,,,,,,,Rational Subgroups,Prepared byRobin Mu,Page 35,合理分組的步

23、驟如下： A. 首先確定可能影響CTQ的各種輸入變量(應從生產班次、 操作員、材料、方法、設備等方面考慮); B. 從以上輸入變量中選出可能會對CTQ產生重大影響的 幾個因素; C. 制定抽樣計劃, 確保每個數據組中隻有偶然原因誤差, 每 組取樣2~5個, 組內樣本盡短時間內收集; D. 測量樣本並記錄數據, 為後續(xù)分析做好準備; E. 收集的數據組別要足夠多.,4.2.3

24、如何進行合理分組,Prepared byRobin Mu,Page 36,目標值(Target) 每一種可量測的特性, 都會有一個想要的績效水準, 就是 通常所說的目標值. 例如: 體溫------- 36.8℃ 上班時間-------- 8:00 a.m.,4.3.1 基本術語及定義,4.3 連續(xù)型數據分析,規(guī)格界限(上限/下限)(Specification Limits) 很多過程活動與

25、過程結果有一個規(guī)格范圍, 該范圍提供允 許超出或低於績效目標值的界限. 例如: LSL 目標值 USL 體溫 36.5 ℃ 36.8 ℃ 37.3 ℃ 上班時間 6:30a.m. 8:00a.m. 8:02a.m.,Prepared byRobin

26、 Mu,Page 37,平均數(Mean): 一組數據的平均值, 通常以“ ”表示. 例如: 體溫 36.7 36.9 37.3 37.1 37.2 36.8 37.0 平均值=37.0偏差(Deviation): 指某個特定量測值與所有量測值平均數之間的距離.,並非所有的量測結果與目標值都是一致的, 此現象稱為變異, 並非所有的變異都是不符合要求

27、的, 某個變異雖然偏離目標, 但仍是符合規(guī)格要求的.,Prepared byRobin Mu,Page 38,標準偏差(Standard Deviation): 指整個數據組的整體離差.,Prepared byRobin Mu,Page 39,缺點率: 根據目標值, 規(guī)格上/下限繪制某一過程量測結果的分布 曲線時, 一些量測結果會超出規(guī)格界限. 位於曲線以下但 超出規(guī)格上/下限范圍的數據所佔的比例或百分比.

28、,Prepared byRobin Mu,Page 40,Cp是衡量制程潛在能力的一個指數, 它未考慮到制程輸出平均值的偏移, 隻考慮制程輸出分布的離散程度與制程規(guī)格的比較結果. 計算公式如下:Cp反映了一個過程的潛在能力, 它假設過程均值與規(guī)格中心值完全重合. CP值越大, 表明制程能力越高.,,Cp=,,,,USL-LSL,6σst,USL=規(guī)格上限LSL=規(guī)格下限σst=短期標準差,4.3.2 衡量短期制程能

29、力的指數,Prepared byRobin Mu,Page 41,,Cpk是衡量制程實際能力的一個指數, 它考慮了制程輸出平均值的偏移, 計算公式如下：,T=(USL-LSL)/2,,Cpk=(1-K)Cp =(1-K),,,,USL-LSL,6σst,,K=,,,,T -X,USL-LSL,,2,Cpk= (1-ICaI)*Cp,單側下限制程能力指數,單側上限制程能力指數,,,,Prepared byRobin M

30、u,Page 42,準確度Ca,精確度Cp,精密度CPk,Ca/Cp/CPk之間的概念關係,Cpk=Cp(1-ICaI),Prepared byRobin Mu,Page 43,例: 一批軸承, 抽樣量測尺寸如下: 10.52 10.53 10.48 10.47 10.49 10.50 10.48 10.52 1

31、0.51 10.48 10.50 10.50 10.51 10.49 10.50 10.52 10.50 10.49 10.48 10.49 10.50 10.51 10.48 10.48 10.50 1

32、). 若Spec 10.50±0.05, 則Cpk為多少？ 2). 若Spec 10.55Max, 則Cpk為多少?解: 1). 2).,Prepared byRobin Mu,Page 44,4.3.3 衡量長期制程能力的指數,,Pp/Ppk 計算公式如下：,,Pp=,,,,USL-LSL,6σlt,USL=規(guī)格上限LSL=規(guī)格下限σlt =長期標準差,,Ppk=,,,

33、,USL LSL,3σlt,- X,_,Prepared byRobin Mu,Page 45,,4.3.4 制程能力指數分析 A. 當實際中心值等於規(guī)格中心值時, Cpk=Cp, 當實際中心值 不等於規(guī)格中心值時, Cpk<Cp; B. 當Cp及Cpk都較小且二者差別不大時(如Cp=0.72, Cpk= 0.69), 說明主要問題是σ 太大, 改進應首先著眼於降低制

34、 程波動; C. 若Cp較大, 而Cpk很小(如Cp=1.43, Cpk=0.72), 說明主要 問題是實績中心值偏離規(guī)格中心值太多, 應首先著眼於移 動實際中心值, 使之更接近規(guī)格中心值; D. 如果Cp本不夠好, Cpk更小, (如Cp=0.84, Cpk=0.35), 兩者 差異較大, 說明σ及實際中心值都有問題, 通常改進制程應

35、 首先移動實績中心值, 使之更接近規(guī)格中心值, 然後設法 降低制程波動. 總之, 不要單獨使用這兩個之中的一個.,Prepared byRobin Mu,Page 46,為一般通則, 隨產業(yè)品質水準進步本表亦有所變更.,4.3.5 制程能力指數評價標準,Prepared byRobin Mu,Page 47,,,,USL=160,X-Bar,μ= 100,σ,Z=,,,,USL-μ,160-100

36、,20,=,= 3.0,From Z table, for Z=3.0 , P(defect)= 0.00135,僅有單側上規(guī)格限,4.3.6 Sigma水準---Z,Prepared byRobin Mu,Page 48,,,,USL=160,μ = 110,P(defect)= 0.0061+ 0.000233=0.00644,雙側規(guī)格限,,LSL=40,From Z table, for P(defect)= 0.00644,

37、Z=2.487,,Prepared byRobin Mu,Page 49,4.3.7 長期Zlt,Prepared byRobin Mu,Page 50,Prepared byRobin Mu,Page 51,Prepared byRobin Mu,Page 52,單位(N--Unit)缺點(D--Defect)機會(O--Opportunity)每百萬個機會的缺點數(DPMO),4.4.1 基本術語及定義,4.4 離散型

38、數據分析,Prepared byRobin Mu,Page 53,以Z值換算表將DPMO轉換成σ值,不良率為37.5%, 查表可得知, Zst為0.32.,4.4.2 制程能力分析,,Prepared byRobin Mu,Page 54,,5. SPC的工具---管制圖,5.1. 管制圖的原理,,μ — Meanσ— Standard deviation,X — averageS — Sample stand deviatio

39、n,Population總體N,Sample樣 本n,,,,,,,,,,,直方圖,正態(tài)分布圖,n>30時,直方圖 ? 正態(tài)分布圖 ? 管制圖,一種以實際產品品質特性與根據過去經驗所判明的制程能力的管制界限比較,而以時間順序用圖形表示者.,Prepared byRobin Mu,Page 55,,,,解析,+3s,-3s,u,-3s,管制,+3s,u,,,UCL,CL,LCL,,,,Prepared byRo

40、bin Mu,Page 56,Prepared byRobin Mu,Page 57,,5.2. 管制圖的種類,,均值—中位數管制圖均值—極差管制圖均值—標準差管制圖單值—移動極差管制圖不合格品率管制圖不合格品數管制圖缺陷數管制圖單位缺陷數管制圖,Prepared byRobin Mu,Page 58,,Prepared byRobin Mu,Page 59,5.2.1 均值—極差管制圖 均值—極差管制圖

41、是一種計量值管制圖, 控制物件的資料 全部來自連續(xù)型資料. 優(yōu)點: 資料搜集量小, 計算方便; 缺點: 隨著樣本容量的增大, 效率降低. 中心線和控制限:,Prepared byRobin Mu,Page 60,Prepared byRobin Mu,Page 61,5.2.2 均值—標準差管制圖

42、 中心線和控制限:,Prepared byRobin Mu,Page 62,Prepared byRobin Mu,Page 63,5.2.3 單值—移動極差管制圖 單值—移動極差管制圖也是一種計量值管制圖, 控制物件的 資料主要來自於那些破壞性實驗或無須大量抽查的實驗. 優(yōu)點: 資料搜集量小, 計算方便 缺點: 靈敏度較差 中心線和控制限:,MR圖,X圖,（視為

43、0）,Prepared byRobin Mu,Page 64,Prepared byRobin Mu,Page 65,5.2.4 不合格品率管制圖 中心線和控制限:,其中, 若LCL<0, 令LCL=0.,Prepared byRobin Mu,Page 66,Prepared byRobin Mu,Page 67,5.2.5 不合格品數管制圖 不合格品數管制圖同不合格品率控制圖一樣是

44、一種計數 型管制圖, 在原理上兩者並無差別, 但在一些細節(jié)上兩者 還是存在某種差異, 不合格品數控製圖樣本大小必須為定 值, 而不合格品率控制圖中樣本大小可以不等. 中心線和控制限:,其中, 若LCL<0, 令LCL=0,Prepared byRobin Mu,Page 68,Prepared byRobin Mu,Page 69,5.2.6 缺陷

45、數管制圖 缺陷數管制圖是用來控制產品上疵點或缺陷數目的管制 圖, 同前面兩節(jié)所介紹的一樣都屬於計數型管制圖. 中心線和控制限:,,,,缺陷,其中, 若LCL<0, 令LCL=0,Prepared byRobin Mu,Page 70,Prepared byRobin Mu,Page 71,5.2.7 單位缺陷數管制圖 單位缺陷數管制圖同缺陷數管制圖

46、一樣都屬於計數型管 制圖, 它與缺陷數控製圖的區(qū)別是, 缺陷數控製圖中樣本 量必須相同, 而單位缺陷數控製圖中樣本量可以不同. 中心線和控制限:,其中, 若LCL<0, 令LCL=0,Prepared byRobin Mu,Page 72,Prepared byRobin Mu,Page 73,計數值,,,不良數或缺點數,n是否一定,單位大

47、小是否一定,,不良率,缺點數,單位缺點,,不良數,,,,,,,數據性質,計量值,單點-移動全距,中位數-全距,,,n>1,,N,中心線性質,Y,n >9,平均值-標準差,平均值,中位數,n=2~9,平均值-全距,,,,,,,,Y,不良數,缺點數,5.3. 管制圖類型的選擇,Y,N,Y,N,Prepared byRobin Mu,Page 74,EXCEL版控制圖,Prepared byRobin Mu,Page

48、75,有1點在A區(qū)以外者.(口訣:1A外),5.4. 管制圖判讀原則,Prepared byRobin Mu,Page 76,連續(xù)9點在單側.(口訣:9單側),Prepared byRobin Mu,Page 77,連續(xù)6點持續(xù)的上升或下降.(口訣:6升6降),Prepared byRobin Mu,Page 78,連續(xù)6點持續(xù)的上升或下降.(口訣:6升6降),Prepared byRobin Mu,Page 79,連續(xù)14點交

49、互著一升一降者.(口訣:14升降),Prepared byRobin Mu,Page 80,3點中有2點在A區(qū)或A區(qū)以外者.(口訣:3分之2A),Prepared byRobin Mu,Page 81,5點中有4點在B區(qū)或B區(qū)以外者.(口訣:5分之4B),Prepared byRobin Mu,Page 82,連續(xù)15點在中心線上下兩側之C區(qū)者.(口訣:15 C),Prepared byRobin Mu,Page 83,有8點在

50、中心線之兩側,但C區(qū)並無點子者.(口訣:8缺C),,Prepared byRobin Mu,Page 84,6. SPC的運作流程,6.1. 運作流程圖,,Prepared byRobin Mu,Page 85,6.2.1. 基本條件: A. 基礎管理比較扎

51、實 B. 生產過程比較穩(wěn)定 C. 員工應接受過統(tǒng)計技術的系統(tǒng)培訓 D. 具備統(tǒng)計技術應用所需的技術、資源條件6.2.2. 應用條件: A. 控制對象可以是質量特性、質量指標或參數 B. 控制對象應定量描述並具有分布的可重複性6.2.3. 控制對象: A. 重要性: 選擇關鍵項目 B. 單一性: 每個管制圖管控一項目6.2.4. 取樣方法: A. 一定要隨機取樣

52、 B. 按確定的時間間隔取樣 C. 樣本大小應保證管制圖有適宜的檢出力 D. 解析用管制圖取樣組數應大于或等于25組,6.2. 運作前應考慮的問題,Prepared byRobin Mu,Page 86,6.3.1. 建立解析用管制圖,A. 收集數據: 選擇管制特性X, 決定樣本大小n及抽樣間隔, 樣本組數k; A.1. 選擇管制特性

53、X A.1.1. 能量測的產品或制程特性; A.1.2. 與客戶使用及生產關系重大之特性; A.1.3. 與下道制程影響較大之特性; A.1.4. 關鍵制程之特性. A.2. 決定樣本大小n及抽樣間隔 A.2.1 樣本大小n約在2~5個之間, 不宜太大; A.2.2 同一組之數據應在同一生產條件及短時間內取樣;,6.3. Xbar-R管制圖運作流程,Prepa

54、red byRobin Mu,Page 87,A.2.3 初期解析之制程宜在較小的間隔連續(xù)取樣, 管制狀態(tài)下 之制程可加長其間隔, 對正在生產產品之監(jiān)視, 可以每班 兩次、每小時一次或其它可行的抽樣頻率. 除客戶要求 及另有規(guī)定外, 可參照下表執(zhí)行: A.2.4 每組樣本可識別日期、時間、機臺號、原材料或Lot No. A.3 決定樣本組數

55、k(以保証制程之主要變異有機會出現為原則) 一般以25組以上的樣本及100個以上的數據以檢驗制程之穩(wěn) 定及估計制程特性的平均值與標準差;,Prepared byRobin Mu,Page 88,B. 記錄數據及計算各組平均值 及極差Ri, 總平均值 及,管制中心線管制上限管制下限,管制圖,管制中心線管制上限管制下限,R管制圖,C. 計算管制界限,Prepared byRob

56、in Mu,Page 89,公式中D4﹑D3﹑A2為隨樣本數n變化而改變的常數,Prepared byRobin Mu,Page 90,,,,D. 繪制管制界限及描點 D.1 決定管制圖之座標尺寸 D.1.1 兩管制圖之座標尺寸分開制訂; D.1.2 中心線置於縱座標之中心位置上; D.1.3 管制上下界限約於座標之2/3~3/4位置上; D.1.4 決定一格的大小及座標之尺寸.

57、 對於X_bar圖, 座標上之每格刻度值應至少為樣本均值之 最大值與最少值差值的2倍; 對於R圖, 應從最低值為0開始到最大值間差值為初始階 段的最大極差(R)的2倍. D.2 依管制界限及各組及極差Ri之大小描繪於管制圖上 D.2.1 中心線以實線描繪, 管制界線以紅色虛線描繪; D.2.2 依各組之統(tǒng)計量大小描點於管制圖上;

58、D.2.3 將各點以實線連接.,Prepared byRobin Mu,Page 91,E. 解析制程 E.1 解析R管制圖 組內樣本間的變異估計值, 決定各組及平均值間的變異 程度, 故R管制圖的穩(wěn)定性 須先解析.,E.1.1 有點超過管制上限 I. 管制界限計算錯誤或描點錯誤; II. 組內變異或實際制程變異, 在某時變大或趨勢性變大; I

59、II.量測系統(tǒng)曾經變更(如不同的檢驗人員或量具)或量測 系統(tǒng)沒有足夠的分辨率 ; 有點低於管制下限 I. 管制界限計算錯誤或描點錯誤; II. 實際制程變小(變好), 應調查後推廣; III. 量測量測系統(tǒng)曾經變更(含數據已被編輯或改變).,一點超出管制界限.,Prepared byRobin Mu,Page 92,連續(xù) 7 點遞增或遞減.,連續(xù) 9 點

60、出現在中心線的同一側.,E.1.2 有連續(xù)的點出現 有連續(xù)9個點出現在中心線的一側或連續(xù)6個點上升(或下降) 若連續(xù)9點出現在上側或連續(xù)6個點上升 I. 不規(guī)則的原因造成較大的數據變異. 如設備的故障或固定 鬆動, 或單一制程條件的改變, 或使用新的(或不均勻的) 原物料批. 這些問題必須即時糾正; II. 量測系統(tǒng)變更, 如檢驗人員或量測設備變更; 若連

61、續(xù)9點出現在下側或連續(xù)6個點下降 I. 制程條件造成較小的數據變異, 須予調查與分析, 經確認無 特殊原因引起的應推廣; II. 量測系統(tǒng)的變更, 可能掩飾真實的改變.,Prepared byRobin Mu,Page 93,連續(xù) 14 點中相鄰點上下交替,E.1.3 明顯的非隨機現象(即超過或少於2/3的點集中在中間 的1/3區(qū)域內) 連續(xù)14點中相鄰點上下

62、交替 I. 計算錯誤或描點錯誤; II. 數據分層不夠, 即由兩臺加工設備或由兩位操作人員 輪流進行操作而引起的系統(tǒng)效應; III.量測系統(tǒng)的變更, 可能由兩臺量測儀器或由兩位量測 人員輪流量測而引起的.,Prepared byRobin Mu,Page 94,E.1.4 發(fā)掘並矯正特殊原因 對極差管制圖上顯示的特殊

63、原因, 相關單位應進行分析, 及時採取應對對策, 並給予橫向展開, 防止類似問題再發(fā).E.1.5 再計算管制界限 當進行初始制程解析或重估制程能力時, 管制界限應重新 計算, 以剔除制程在不穩(wěn)定期間已發(fā)掘及矯正的特殊原因, 對管制界限估算的影響. 依E1.1~E1.4再次確認R管制圖的 點是否在管制狀態(tài)下, 必要時應重新確認、矯正及再計算. 注: 因特殊原

64、因而剔除的數據, 其主要目的是盡量在制程 隻有共同原因存在時估計制程變異.,Prepared byRobin Mu,Page 95,E.2 解析Xbar管制圖 當R管制圖處於管制狀態(tài)下, 組內變異可認為是穩(wěn)定後,方可 解析Xbar管制圖. 如各組平均值在管制狀態(tài), 可表示制程隻有 普通原因引起的變異; 否則, 表示有特殊原因變異而引起制程 中心不穩(wěn)定. E.2.1

65、有點超過管制上下限, 參照E.1之解析R管制圖; E.2.2 有連續(xù)的點出現, 參照E.1之解析R管制圖; E.2.3 明顯的非隨機現象 連續(xù)14點中相鄰點上下交替, 參照E.1之解析R管制圖;,Prepared byRobin Mu,Page 96,連續(xù)3點中有2點在同一側的2/3區(qū)域以外; 連續(xù)5點中有4點在同一側的1/3區(qū)域以外; I. 管制界限錯誤或描

66、點錯誤; II. 制程或抽樣方法因連續(xù)的組包含不同變異來源的數據, 如進料混批.,連續(xù)5點中有4點落在中間1/3區(qū)域外.,連續(xù)3點中有2點落在中間的2/3區(qū)域外.,Prepared byRobin Mu,Page 97,連續(xù)15點在1/3區(qū)域上下 I.管制界限、計算錯誤或描點錯誤; II. 量測數據可能經過編輯 (極差與均值相差甚遠的幾個樣本數據被

67、 更改或剔除); III.量測系統(tǒng)可能沒有足夠的分辨率. 當上述三種可能被排除且制程能力足夠, 應對該制程加以推廣. 連續(xù)8點在兩側, 但無一在1/3區(qū)域內 I. 管制界限、計算錯誤或描點錯誤; II. 制程或抽樣方法有分層, 即每組數據系統(tǒng)性地包含不同的制程平均, 如多線或多機臺生產各取一組樣本;

68、 III.量測系統(tǒng)的變更, 可能由多臺量測儀器或由多位量測人員量測引起.,連續(xù)15點在1/3區(qū)域內中心線上下.,連續(xù)8點在中心線兩側,但無一點在1/3區(qū)域內.,Prepared byRobin Mu,Page 98,E.3.1 如制程分布範圍在規(guī)格界限內, 且中心在規(guī)格中心附近, 可認為制程能力能滿足規(guī)格要求,可以延長做為管制用 管制圖.,E.3 與規(guī)格比較,規(guī)格上限,管制上限,