基于常規(guī)X射線源分析晶體成像的模擬研究和實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的物理設(shè)計(jì).pdf_第1頁(yè)
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1、與傳統(tǒng)的X射線成像技術(shù)相比(吸收襯度成像),相位襯度成像可以更加清楚地分辨出輕元素樣品的結(jié)構(gòu)特征,它已經(jīng)逐漸發(fā)展成為材料和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域不可或缺的技術(shù),這也是目前國(guó)內(nèi)外的熱點(diǎn)研究方向。這篇論文中的重點(diǎn)是基于分析晶體 X射線成像,包括對(duì)該成像方法做的一部分模擬研究工作,和在國(guó)內(nèi)外的研究進(jìn)展的基礎(chǔ)上對(duì)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的物理設(shè)計(jì)。主要包括以下幾點(diǎn):
  1)根據(jù)國(guó)內(nèi)外的研究發(fā)展現(xiàn)狀分析對(duì)比了幾種主要的X射線相位襯度成像方法:類同軸全息、澤尼克成像、光

2、柵剪切和衍射增強(qiáng)。在充分了解相位襯度成像物理學(xué)基礎(chǔ)的前提下對(duì)基于分析晶體成像技術(shù)進(jìn)行詳細(xì)介紹,分別對(duì)該成像技術(shù)下幾種不同的圖像獲取方法:衍射增強(qiáng)法、廣義衍射增強(qiáng)法和多圖成像法進(jìn)行對(duì)比,最后選取提取折射角精度最高的多圖成像法作為主要的研究方向。
  2)盡管利用統(tǒng)計(jì)學(xué)方法的多圖成像法所得到的折射角精度最高,它與理論值之間仍然有較大偏差。為了提取更加精確的折射角,論文將針對(duì)多圖成像方法本身存在的缺陷對(duì)其提出了幾種改進(jìn)方案,通過模擬計(jì)算

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