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![半導(dǎo)體CdSxSe1-x納米材料的制備和非線性光學(xué)特性研究.pdf_第1頁(yè)](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/14/17/4ed68dc6-38f5-4c88-acdd-68357b2133d4/4ed68dc6-38f5-4c88-acdd-68357b2133d41.gif)
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文檔簡(jiǎn)介
1、半導(dǎo)體納米材料因其獨(dú)特的光電性質(zhì)以及在微電子器件中的潛在應(yīng)用而成為科研工作者研究的熱題。作為典型的II-VI族半導(dǎo)體材料,硫化鎘(Cadmium Sulfide,CdS)和硒化鎘(Cadmium Selenium,CdSe)在可見(jiàn)光波段的發(fā)光二極管、納米激光器和光電探測(cè)器等光電子器件中有重要的應(yīng)用前景。而兩者的固溶體CdSxSe1-x半導(dǎo)體納米結(jié)構(gòu)與原二元化合物 CdS和CdSe有很多相似的特點(diǎn)和性質(zhì),再加上三元化合物帶隙的靈活性更加促
2、進(jìn)了其在光電器件方面的應(yīng)用價(jià)值。本論文的主要內(nèi)容如下:
利用化學(xué)氣相沉積法制備了比較純凈且結(jié)晶度較高的CdSxSe1-x納米材料,同時(shí)改變組分x來(lái)調(diào)節(jié)不同的帶隙,以及分析晶格常數(shù)與組分x之間的變化關(guān)系。采用X射線衍射表征了樣品的物相結(jié)構(gòu)和元素組成,通過(guò)場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡觀測(cè)了CdSxSe1-x納米材料的表面形貌,并證實(shí)其VLS生長(zhǎng)機(jī)理,利用高分辨透射電鏡及選區(qū)電子衍射分析所測(cè)材料的晶體結(jié)構(gòu)和生長(zhǎng)方向。
采用實(shí)驗(yàn)室自主設(shè)計(jì)
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