1、電爆鋁絲制備納米鋁粉的過程中會伴隨著等離子體的產(chǎn)生，而等離子體的產(chǎn)生是影響鋁粉生產(chǎn)結(jié)果的重要因素。對等離子體的檢測是完善制備工藝的必要條件。本文主要是對等離子體的密度檢測提出一個完整的解決方案。本文采用干涉測量法對等離子體進(jìn)行檢測，具體采用馬赫-曾德激光干涉法。因為等離子體的存在將對探測光相位起到一個擾動作用，該方法是將通過等離子體的探測光相位與未通過等離子體的參考光相位進(jìn)行對比，最后得到彎曲的干涉條紋。干涉條紋彎曲包含著等離子體的密度

2、信息，通過對干涉條紋的處理可以獲取這一信息。關(guān)于干涉條紋本文先利用MATLAB進(jìn)行仿真，仿真不同等離子體電子密度得到的不同干涉條紋圖像，得到的仿真圖像可以用來驗證后續(xù)實驗結(jié)果。
　　本文提出先濾波，再二值化，最后對二值圖進(jìn)行細(xì)化處理的步驟。在圖像的濾波處理上，文中分析對比了空域濾波、頻域濾波和偏微分方程濾波三種處理方法優(yōu)缺點，最終采用偏微分方程濾波對本文的干涉圖像進(jìn)行濾波處理。干涉條紋圖像具有光強呈余弦分布這一特點，所以在圖像二值

3、化上采用導(dǎo)數(shù)符號二值圖法。對于二值圖的細(xì)化算法，本文介紹了OPTA細(xì)化算法、Hilditch經(jīng)典算法、Zhang快速并行細(xì)化算法以及數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)細(xì)化算法，并采用數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)細(xì)化方法進(jìn)行細(xì)化處理，該細(xì)化方法可利用MATLAB自帶函數(shù)完成。圖像處理完成后，需要對圖像中的信息提取。實際上就是對彎曲條紋的偏移量進(jìn)行測量，根據(jù)干涉圖像計算出彎曲處的每個點的偏移了多少個干涉級次。得到偏移量后即可算出等離子體中電子密度。要工作有以下幾點：對整個檢測系統(tǒng)進(jìn)