半導體激光器可靠性的無損評價技術研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、自從上個世紀六十年代發(fā)展以來,半導體激光器在光電子科學和技術領域中占有重要的一席之地。半導體激光器隨著不斷地在各種領域中得到了適合的應用之后,半導體激光器的發(fā)展極其迅猛。如今半導體激光器在光纖通信,生物醫(yī)療,信息存儲等領域中都有著普遍應用并且應用的范圍也在不斷地擴展。
  半導體激光器的無損評價技術有助于半導體激光器的篩選,能夠快速地篩選出可靠性高的器件,有利于縮短產(chǎn)品測試周期,避免了傳統(tǒng)方法中所帶來的資源損耗和浪費。電導數(shù)方法是

2、目前對于半導體激光器進行無損評價方法中處于優(yōu)勢地位的方法之一。
  本文基于電導數(shù)方法和傳統(tǒng)的電老化方法來對器件的評價技術開展了相關實驗工作。對12個器件進行傳統(tǒng)的電老化,在器件的老化過程中監(jiān)測其P-I-V特性參數(shù),光場分布情況和電導數(shù)參數(shù)的變化。處理了大量的數(shù)據(jù)為電導數(shù)方法理論提供支撐。分析了樣品期間的電特性參數(shù)變化趨勢和光場分布變化趨勢,結合了電導數(shù)方法的變化與器件的壽命關系來對樣品器件在老化過程中的變化進行了定性分析。作者建

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