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![基于Genesis軟件的50μm-50μm線路電路板開發(fā).pdf_第1頁(yè)](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/14/17/429f887f-7ddd-4358-92f6-fa7ad8a4397a/429f887f-7ddd-4358-92f6-fa7ad8a4397a1.gif)
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文檔簡(jiǎn)介
1、隨著IC產(chǎn)業(yè)的突飛猛進(jìn)發(fā)展,各種元器件的持續(xù)推出,這些元器件的多功能化使得單位面積需要的引腳數(shù)量大幅度增加,使得 PCB產(chǎn)品技術(shù)也發(fā)生了與其相適應(yīng)的明顯變化。由于線路板上元器件組裝密度不斷的提高,PCB產(chǎn)品也正向著高密度、超薄型、小元件等方向發(fā)展,因此精細(xì)線路工藝在PCB制作中愈顯重要;本文的研究對(duì)象50μm/50μm線路電路板透過Genesis2000軟件的設(shè)計(jì),結(jié)合客戶對(duì)精細(xì)線路板性能、品質(zhì)等方面的要求,對(duì)50μm/50μm線路電路
2、板的存在的問題進(jìn)行研究、解決,提高了50μm/50μm線路電路板的生產(chǎn)合格率,滿足產(chǎn)品品質(zhì)規(guī)格,達(dá)到可以產(chǎn)業(yè)化的水平。主要研究與攻克的難題如下:
一.攻克層間對(duì)準(zhǔn)度、電鍍后面銅均勻性、蝕刻后線路均勻性、介層均勻性、內(nèi)外層開短路等問題,為品質(zhì)的提升找到合適的方法,并進(jìn)行生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)化。
1.針對(duì)層間對(duì)準(zhǔn)度的改善,通過 Genesis軟件設(shè)計(jì)出來試驗(yàn)測(cè)試板的制作流程,通過試驗(yàn)最優(yōu)化的各種各工序?qū)ξ幌到y(tǒng),找到最優(yōu)的對(duì)位系統(tǒng)設(shè)計(jì)
3、,以實(shí)現(xiàn)良好的對(duì)準(zhǔn)度。
2.在面銅均勻性方面,首先通過實(shí)驗(yàn)找出電鍍面銅均勻性最佳的設(shè)備別,然后再通過實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)測(cè)試出最優(yōu)化的電鍍參數(shù)。
3.針對(duì)線路均勻性,我們通過Genesis軟件設(shè)計(jì)出測(cè)試板制作的內(nèi)外層線路圖形,對(duì)蝕刻線的蝕刻參數(shù)因子進(jìn)行試驗(yàn)設(shè)計(jì)測(cè)試,找到最好的蝕刻速度、蝕刻溫度、蝕刻壓力、蝕刻噴灑方式、投板方式等因素的組合參數(shù),使蝕刻因子最大化。
4.針對(duì)介質(zhì)層均勻性,通過 Genesis軟件計(jì)算殘銅率
4、,設(shè)計(jì)壓合疊構(gòu),再通過試驗(yàn)設(shè)計(jì)測(cè)試出最佳壓合參數(shù)(壓力與升溫速率),達(dá)到最均勻、最符合客戶要求的介層。
5.在AOI檢測(cè)方面,通過Genesis軟件設(shè)計(jì)AOI檢測(cè)資料,再通過實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)對(duì)參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié),找到最佳的檢測(cè)參數(shù)與設(shè)計(jì)資料的搭配。
二.試驗(yàn)階段的產(chǎn)品通過了可焊性,熱應(yīng)力,冷熱沖擊等可靠性測(cè)試。
三.實(shí)現(xiàn)50μm/50μm線路電路板的產(chǎn)業(yè)化,同時(shí)產(chǎn)品的品質(zhì)水平也達(dá)到國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)水平,為實(shí)現(xiàn)50μm/50μm線
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