一種改進(jìn)型預(yù)兼容實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)及其性能指標(biāo)分析.pdf_第1頁(yè)
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1、由于標(biāo)準(zhǔn)暗室高昂的建造和測(cè)試費(fèi)用,越來(lái)越多的企業(yè)傾向于建造自己的預(yù)兼容實(shí)驗(yàn)室。作為產(chǎn)品整改和摸底測(cè)試的場(chǎng)地,預(yù)兼容實(shí)驗(yàn)室的研究變得越來(lái)越迫切。正是基于此背景,本文對(duì)預(yù)兼容實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行了系統(tǒng)的分析研究,并且提出了預(yù)兼容實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)校準(zhǔn)算法,設(shè)計(jì)了預(yù)兼容校準(zhǔn)軟件。
　　本文首先討論了幾種比較常用的電磁兼容測(cè)試場(chǎng)地,分析了預(yù)兼容實(shí)驗(yàn)室研究的重要性,指出了預(yù)兼容實(shí)驗(yàn)室中存在的諧振比較嚴(yán)重的問(wèn)題。針對(duì)這個(gè)問(wèn)題,運(yùn)用菲涅爾原理分析了屏蔽室的主反射

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