1、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)成為一種關(guān)系經(jīng)濟(jì)發(fā)展和科技進(jìn)步的關(guān)鍵技術(shù)。同時(shí),現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展也為檢測(cè)技術(shù)與檢測(cè)工具的創(chuàng)新提供了強(qiáng)大的推力,特別是計(jì)算機(jī)技術(shù)、微電子技術(shù)、光探測(cè)技術(shù)的進(jìn)步,使得檢測(cè)技術(shù)及其應(yīng)用得到了空前的發(fā)展。但是,目前在很多領(lǐng)域的信息檢測(cè)中仍然存在信息無法檢測(cè)和檢測(cè)精度不高的問題。
　　 可拓檢測(cè)技術(shù)的提出為這一問題的解決提供了新方法,它是以可拓學(xué)的概念及理論作為支撐,在解決不可測(cè)的問題上采用了可拓學(xué)解

2、決矛盾問題的新思路?？赏貙W(xué)的目的在于通過從定性和定量?jī)煞矫嫜芯棵軉栴}本身,找到解決矛盾問題的辦法。
　　 可拓檢測(cè)是利用物元的轉(zhuǎn)換來實(shí)現(xiàn)檢測(cè)問題的轉(zhuǎn)換,通過對(duì)可測(cè)物元特征及量值的檢測(cè),進(jìn)而求出不可測(cè)物元的特征及量值結(jié)果?？赏貦z測(cè)的主要研究?jī)?nèi)容包括建立物元模型、可拓變換、聚焦推理、焦點(diǎn)顯形等過程。目前可拓檢測(cè)技術(shù)還處于初步研究階段,有待于隨著可拓學(xué)和檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展而進(jìn)一步完善。
　　 本文在對(duì)物元、可拓變換、關(guān)聯(lián)函數(shù)、可

3、拓集合等基本概念的研究基礎(chǔ)上,運(yùn)用數(shù)學(xué)理論、模糊推理、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和相關(guān)模型的概念,對(duì)可拓檢測(cè)中不可測(cè)物元的特征進(jìn)行了相關(guān)研究。首先,本文根據(jù)對(duì)不可測(cè)問題的分析,將不可測(cè)物元分為絕對(duì)不可測(cè)物元和相對(duì)不可測(cè)物元兩大類,并對(duì)這兩類不可測(cè)物元進(jìn)行了定義和相關(guān)因素的分析；其次,詳細(xì)概述了不可測(cè)物元特征分析的大致過程:先獲取對(duì)象的被測(cè)特征及其數(shù)量,并開發(fā)對(duì)象的其它特征,然后找出被測(cè)特征和其它特征的關(guān)系并進(jìn)行轉(zhuǎn)換,以求出被測(cè)物元；再次,通過找出不可測(cè)物