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![基于激光平面干涉儀的平晶面形測量系統(tǒng).pdf_第1頁](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/14/17/20fd8b09-0009-4100-9735-20b7e053e32f/20fd8b09-0009-4100-9735-20b7e053e32f1.gif)
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文檔簡介
1、在光學(xué)冷加工領(lǐng)域,平晶是常用到的計量器具,而平面度是其參數(shù)指標(biāo)中極其重要的一個環(huán)節(jié)。作為測量標(biāo)準(zhǔn)其本身的平面度指標(biāo)需具備良好的精度。在我國現(xiàn)行的計量領(lǐng)域還主要依靠人工目視測量,采用光圈公差(N)和局部光圈公差(△1N,△2N)來表征。這種測量方式的判讀效率以及結(jié)果精度已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足經(jīng)濟(jì)社會發(fā)展的速度需求。
本項目是基于PG15-J4型激光干涉儀改造后的平臺完成的。結(jié)合了CCD圖像傳感技術(shù)以及計算機(jī)圖像處理,不僅提高了測量
2、的自動化程度而且也提高了指標(biāo)精度。論文中首先介紹了平晶的相關(guān)理論知識以及光學(xué)干涉理論,并介紹了幾種主要的檢定方法,最后確定等厚干涉法為最佳,接著完成了對PG-15J4型激光干涉儀自動判讀改進(jìn),包括光源,CCD等關(guān)鍵零件的裝配。然后將數(shù)字相機(jī)采集的圖像進(jìn)行處理,包括獲取背景,線性對比度展寬,條紋與背景的相減處理,圖像濾波,二值化等等,最終獲得單像素條紋。根據(jù)JJG28-2000規(guī)定的判讀法計算出平面度指標(biāo)。最終的結(jié)果通過對比表明符合計量檢
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