線陣列探測器性能模擬與設(shè)計(jì).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、探測器是輻射成像系統(tǒng)中的關(guān)鍵器件之一,探測器性能的優(yōu)劣和成像系統(tǒng)的最終指標(biāo)關(guān)系密切,因此在進(jìn)行成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)關(guān)于探測器的設(shè)計(jì)是非常關(guān)鍵的內(nèi)容。
  探測器的種類繁多,本文針對(duì)目前工業(yè)CT所使用的線陣列探測器,對(duì)探測器所使用的材料(主要是閃爍晶體材料)進(jìn)行了調(diào)研與分析,對(duì)探測器的物理機(jī)制進(jìn)行了理論分析,為接下來的模擬計(jì)算提供了理論上的依據(jù)。
  利用蒙特卡羅模擬程序MCNP對(duì)探測器材料的幾個(gè)性能,主要包括:晶體材料的粒子探測效

2、率、能量沉積率、有效沉積因子等,進(jìn)行了模擬,然后從理論上對(duì)這些模擬結(jié)果做出了合理的解釋。最后模擬的結(jié)果表明:
  1.閃爍晶體材料的有效原子序數(shù)越高,其性能越好。
  2.對(duì)于一定能量的X射線,探測器的粒子探測效率和能量沉積率隨晶體長度的增加而增加。當(dāng)長度增加到一定的值以后,粒子探測效率和能量沉積率將達(dá)到最大值。有效沉積因子隨長度的增加變化不大。
  3.對(duì)于一定長度的閃爍晶體,其粒子探測效率隨入射X射線的能量的增加而

3、減少。有效沉積因子隨X射線能量的增加而增加。能量沉積率隨X射線能量的增加先增加,然后減少。
  利用腳本軟件對(duì)MCNP的輸入、輸出文件進(jìn)行優(yōu)化,提高了模擬計(jì)算的效率。
  利用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化技術(shù)(Electronic Design Automation,EDA),引入光電二極管、AD轉(zhuǎn)換芯片等電子元件,實(shí)現(xiàn)探測器模塊的功能化。在探測器模塊內(nèi)部用硬件編程的方法設(shè)計(jì)其時(shí)序,使得模塊能夠正常地工作。并設(shè)計(jì)了一個(gè)校正模塊,用于探測器

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