寬帶隙半導(dǎo)體SiC和ZnO的光電性質(zhì)及摻雜研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、SiC和ZnO屬于第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料,它們都有很多優(yōu)良的性能,所以一直都是人們研究的熱點。
   SiC是一種典型的寬禁帶半導(dǎo)體材料,遷移率很高、熱穩(wěn)定性和化學(xué)穩(wěn)定性比較優(yōu)良,在一些特殊的電子器件制造方面有非常大的應(yīng)用潛力,比如高頻、大功率、耐高溫、抗輻射等。然而,SiC材料單晶片價格昂貴,目前國內(nèi)雖已有了SiC單晶材料生長的相關(guān)報道,但其質(zhì)量不好,高質(zhì)量的SiC單晶片還需要進口,并且進口的單晶片還只是小尺寸的,大面積單晶片

2、依然難以制備。這樣的現(xiàn)狀促使人們探討在一些廉價襯底上生長SiC薄膜的方法,比如硅基片。一方面由于目前硅工藝比較成熟,可以買到很廉價的大面積的高純硅基片,另一方面,在Si襯底上生長SiC薄膜,可以使我們的SiC制備與目前世界上已經(jīng)比較成熟的Si工藝相結(jié)合,制備出相應(yīng)的Si基器件,以適應(yīng)大規(guī)模集成電路的需要。
   ZnO是一種Ⅱ-Ⅵ族的半導(dǎo)體材料,在室溫下有著3.37 eV的禁帶寬度(直接帶隙),激子結(jié)合能高達60 meV,因而受

3、到了廣泛關(guān)注,人們普遍認為它有望取代GaN而作為新一代短波長光電子材料的領(lǐng)軍者。隨著ZnO半導(dǎo)體材料的性質(zhì)和制備工藝的研究不斷的進展,基于ZnO的器件,特別是其光電子方面的器件研究取得了巨大進展,但目前來說還未達到實用化水平,其發(fā)展已到了瓶頸階段,因而需要對ZnO材料的一些最基本的問題進行深入研究,比如說ZnO中的摻雜和缺陷,ZnO的生長設(shè)備改進,高質(zhì)量的p型ZnO制備等等。另一方面,可以尋找其它p型襯底,來異質(zhì)外延n型ZnO薄膜,制造

4、異質(zhì)pn結(jié),并且研究其電致發(fā)光,也引起了人們的廣泛關(guān)注。
   圍繞上述背景,本論文分為五章,主要內(nèi)容概括如下:
   第一章,簡單介紹了SiC和ZnO的基本性質(zhì),包括結(jié)構(gòu),力學(xué)性質(zhì),熱學(xué)性質(zhì),光電性質(zhì),介紹了它們的常用制備方法和表征手段,以及它們的廣泛應(yīng)用前景。
   第二章,具體介紹了我們實驗組自行設(shè)計的,聯(lián)通式雙反應(yīng)室的MOCVD設(shè)備。
   第三章,用MOCVD設(shè)備在硅襯底上制備了高質(zhì)量的SiC摻

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