低相干度光學(xué)反射測量技術(shù)的應(yīng)用研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、  隨著通信業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)量的不斷增長,對傳輸速率要求越來越高,作為實現(xiàn)高速全光網(wǎng)絡(luò)的重要技術(shù),各種光纖器件和光集成器件得到了大量研究和應(yīng)用。由于低相干測量有高分辨率、高靈敏度的特點,非常適合光器件細微結(jié)構(gòu)方面的測量,是光器件性能測量的重要方法。本論文主要對低相干光學(xué)反射測量技術(shù)的應(yīng)用進行了研究。主要包括下面幾部分的內(nèi)容:第一,通過對大量光纖光學(xué)測量技術(shù)的文獻資料進行調(diào)研,分析了以光時域反射儀為基礎(chǔ)的光相關(guān)反射儀、低相干反射儀和光頻域反射儀的

2、不同實現(xiàn)原理,比較了這些方法的不同應(yīng)用領(lǐng)域及各自的測量特性。第二,從光干涉現(xiàn)象的時間相干性理論出發(fā),我們研究了準單色光源干涉條紋的光強分布,討論了光源的光譜寬度對干涉條紋長度的影響,由此給出低相干測量分辨率與光源光譜寬度成反比的理論分析。第三,根據(jù)低相干測量要求,選擇相應(yīng)的器件組建了一套低相干光學(xué)反射測量系統(tǒng);設(shè)計了一系列實驗,對這套測量系統(tǒng)的測量分辨率、間距測量精度、光功率強度測量方面的性能進行了測試。第四,根據(jù)系統(tǒng)測試實驗數(shù)據(jù),研究

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