1、具有大的光學非線性特性以及快的響應時間對光通訊器件有著實際意義。本論文以CdSeS量子點為研究對象，采用旋轉(zhuǎn)涂覆法制備CdSeS量子點/聚苯乙烯(PS)復合薄膜，利用X射線衍射(XRD)方法分析薄膜的表面特征，通過紫外可見光譜(UV-Vis)和熒光光譜測試研究CdSeS量子點溶液及CdSeS/PS復合薄膜的光學特性。結(jié)果表明，CdSeS量子點及其復合薄膜具有較大的三階非線性。論文的主要內(nèi)容和結(jié)論如下：
　　1.采用旋轉(zhuǎn)涂覆法在熔石

2、英基片(10×10×0.3mm3)上制備CdSeS/PS復合薄膜。通過調(diào)節(jié)勻膠機的速度以及涂覆時間，可以控制薄膜的厚度。通過顯微鏡觀察,薄膜厚度約為10μm。利用X射線衍射方法表征薄膜的表面形貌,由XRD圖譜可以知道,薄膜在44.4°和64.1°處位置有衍射峰,其分別對應CdSeS量子點(220)面和(440)面的衍射峰。通過謝樂公式可以計算出CdSeS量子點的半徑約為4.4nm。
　　2.通過雙光束紫外-可見光光度計測量 CdS

3、eS量子點溶液以及CdSeS/PS復合薄膜在200-900nm波長范圍的UV-Vis透射譜,從歸一化透射譜中可以看出CdSeS量子點的吸收峰在523nm,其帯隙能量為2.375eV。通過UV-Vis譜我們還可以得到量子點的組分為CdSe0.8S0.2。利用熒光光譜儀測量了CdSeS量子點溶液以及CdSeS/PS復合薄膜在400-700nm波長范圍的熒光光譜,發(fā)光峰在537nm,相比UV-Vis譜有一個15nm的斯托克斯位移。