1、隨著集成電路制造技術的提高,集成電路的規(guī)模越來越大,可以在單一芯片上實現(xiàn)原來由多個芯片才能完成的復雜系統(tǒng),這就是單芯片系統(tǒng)(System-on-a-Chip,SOC)。單芯片系統(tǒng)采用IP核復用的設計方法,將整個系統(tǒng)映射到單個芯片上,它的產生加快了產品開發(fā)速度,縮小體積、提高系統(tǒng)的性能,得到了廣泛的應用。然而隨著SOC內IP核數目的增多,對IP核的測試訪問也變得越發(fā)困難,這給SOC測試帶來了巨大挑戰(zhàn)。本文在IEEE1500標準的基礎上,對

2、SOC測試結構進行了研究和實現(xiàn)。
　　 本文首先介紹了SOC可測性設計技術,深入研究了IEEE1500標準和測試調度算法,設計并實現(xiàn)了SOC測試演示平臺。測試平臺包括硬件部分和軟件部分,硬件部分采用上位機+接口電路+FPGA的結構方式,在FPGA內搭建符合IEEE1500標準的可測性被測電路,并設計測試調度控制器解析上層控制指令,產生IEEE1500標準規(guī)定的控制信號,完成對IP核的測試。軟件部分主要是通過上位機產生測試向量和上