1、隨著集成電路設(shè)計技術(shù)的發(fā)展，其相應(yīng)的測試也變得十分重要。測試生成為測試過程中的一個重要環(huán)節(jié)。本文首先綜述了當(dāng)前基于集成電路寄存器傳輸級(Register Transfer Level，簡稱RTL)的測試生成方法和驗證方法。在此基礎(chǔ)上給出作者所提出的RTL測試生成方法，同時考慮到當(dāng)前RTL測試生成的困難在于缺少有效的故障模型，本文還給出了RTL故障模型分析方法。本文工作主要體現(xiàn)在以下三個方面： 1．兼顧RTL代碼內(nèi)部分枝的狀態(tài)測試

2、生成。本文在狀態(tài)覆蓋的基礎(chǔ)上，給出一種虛擴展狀態(tài)轉(zhuǎn)換的方法，該方法將狀態(tài)轉(zhuǎn)換同其內(nèi)部分枝有效的結(jié)合在一起。在此基礎(chǔ)上再進行狀態(tài)覆蓋測試生成，生成的測試向量可以實現(xiàn)對RTL代碼內(nèi)部分枝的覆蓋。結(jié)合提出的這種方法，選用了部分ITC99-benchmark電路進行了相關(guān)實驗，給出了實驗數(shù)據(jù)和相關(guān)分析，與VTG比較，比VTG生成的測試向量要少一半，而覆蓋率平均以后大致相等。 2．基于遺傳算法的時序電路測試向量生成。文中引入遺傳算法，并以

3、狀態(tài)與狀態(tài)轉(zhuǎn)換為評估。引入靜態(tài)狀態(tài)轉(zhuǎn)換(圖)及動態(tài)狀態(tài)轉(zhuǎn)換(圖)的概念。給出了靜態(tài)、動態(tài)狀態(tài)轉(zhuǎn)換的三個基本屬性。在此方法的基礎(chǔ)上，給出了實驗數(shù)據(jù)，并將結(jié)果X-Pulling系統(tǒng)作比較。比較的結(jié)果說明：在覆蓋率相近的情況下，比X-Pulling運行速度快一個數(shù)量級。 3．RTL故障模型分析。本文針對RTL故障模型進行分析，分析它與門級固定型故障模型之間的關(guān)系；RTL故障模型之間的關(guān)系。給出了一些基本概念和定義，依據(jù)這些概念和定義又