1、隨著超大規(guī)模集成電路集成度的增加及其制造工藝的飛速發(fā)展，單個芯片上集成的晶體管數(shù)目越來越多，原有的垂直型芯片設(shè)計模式已向水平型設(shè)計模式轉(zhuǎn)變，通過復(fù)用IP芯核，片上系統(tǒng)(SoC，System-on-Chip)的功能愈發(fā)強(qiáng)大。SoC設(shè)計縮短了電路設(shè)計周期、降低了設(shè)計風(fēng)險，但同時也帶來了測試數(shù)據(jù)量的快速增加和測試應(yīng)用時間的快速增長，使得SoC測試面臨著巨大的挑戰(zhàn)，而內(nèi)建自測試(BIST，Built-In Self-Test)方法很好地解決了這

2、一難題。
　　 與傳統(tǒng)的外部測試方法相比，內(nèi)建自測試方法將全部測試資源都移到了芯片上，通過在電路內(nèi)部建立測試向量生成、測試向量施加、測試響應(yīng)分析和測試控制結(jié)構(gòu)，使電路進(jìn)行自身測試，徹底擺脫了對昂貴的自動測試設(shè)備(ATE，Automatic Test Equipment)的依賴，從而可以大大降低測試成本。鑒于線性反饋移位寄存器(LFSR，Linear Feedback Shift Registers)重播種方法是工業(yè)界廣泛使用的一

3、種BIST方案，本文重點(diǎn)研究基于LFSR重播種的測試數(shù)據(jù)壓縮方法。
　　 本文在分析比較了國內(nèi)外幾個典型的LFSR重播種方法和研究了ISCAS-89部分標(biāo)準(zhǔn)電路的硬故障集的基礎(chǔ)上，結(jié)合LFSR重播種方法中生成種子的長度受到測試集中測試向量確定位最大數(shù)目Smax制約的特點(diǎn)，提出了一種基于等確定位切分的LFSR重播種方法。該方案先將所有測試向量通過某種排序策略將其串成一條數(shù)據(jù)流，按照確定位個數(shù)相等的策略對該數(shù)據(jù)流進(jìn)行切分，使得到的新