管狀工件內(nèi)表面磁場輔助直流濺射鍍膜方法的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、在科學(xué)研究和生產(chǎn)實(shí)踐中,以管狀工件內(nèi)表面作為工作面的情形有很多。在管內(nèi)壁沉積薄膜可以顯著改善工件的性能,但是,在長度較長、內(nèi)徑較小的管內(nèi)壁制備薄膜是比較困難的。本文在前人研究的基礎(chǔ)上提出了一種改進(jìn)的鍍膜方法,即磁場輔助直流濺射鍍膜方法。該方法利用直流勵(lì)磁線圈提供磁場,控制放電范圍,且線圈可以沿著管軸向移動(dòng),從而實(shí)現(xiàn)在整個(gè)管狀工件內(nèi)表面沉積薄膜。
  本文采用數(shù)值模擬和實(shí)驗(yàn)分析相結(jié)合的方法開展研究。首先對濺射區(qū)域內(nèi)的磁場分布進(jìn)行了模

2、擬和測量,以此確定最佳的勵(lì)磁線圈長度。其中模擬部分采用COMSOL軟件,發(fā)現(xiàn)模擬結(jié)果與實(shí)際測量值的趨勢基本一致,磁感應(yīng)強(qiáng)度在管內(nèi)較大范圍內(nèi)(管長的3/4)分布比較均勻。綜合分析各種因素,特別是考慮到控制放電范圍,勵(lì)磁線圈長度不宜太長。其次理論計(jì)算濺射區(qū)域內(nèi)電場分布,發(fā)現(xiàn)電場為對數(shù)場分布,電子在電磁場內(nèi)的運(yùn)動(dòng)軌跡為螺旋線。再次結(jié)合電子在電磁場內(nèi)的運(yùn)動(dòng)軌跡和磁控輝光放電的特征長度,確定本實(shí)驗(yàn)裝置用到的待鍍管最小內(nèi)徑應(yīng)大于6mm。最后利用XO

3、OPIC軟件模擬了磁感應(yīng)強(qiáng)度、陰極電壓和工作壓力對放電區(qū)域內(nèi)等離子體電勢分布和帶電粒子密度分布的影響,發(fā)現(xiàn)磁場對帶電粒子約束作用十分明顯,減弱磁場強(qiáng)度或減小工作壓力都可以提高靶材的放電電壓。
  本課題中,設(shè)計(jì)制造了管狀工件內(nèi)表面磁場輔助直流濺射鍍膜系統(tǒng),經(jīng)調(diào)試后設(shè)備運(yùn)行良好。磁感應(yīng)強(qiáng)度0-0.035T連續(xù)可調(diào),在電源放電功率2W至75W,電流7mA至180mA,放電電壓300V至450V范圍內(nèi),可以穩(wěn)定放電。
  本文利用

4、研制的磁場輔助直流濺射鍍膜系統(tǒng),開展了在內(nèi)徑φ28mm長160mm的不銹鋼管內(nèi)表面沉積Cu薄膜的實(shí)驗(yàn)研究,并利用等離子體發(fā)射光譜(OES)技術(shù)對工藝過程進(jìn)行了診斷。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)當(dāng)陰極靶材負(fù)偏壓高于400V,工作壓力小于2Pa,磁感應(yīng)強(qiáng)度小于200G時(shí),Cu324.7nm譜線明顯;當(dāng)工作壓力較高或磁感應(yīng)強(qiáng)度較大時(shí),靶材負(fù)偏壓低于400V, Cu324.7nm譜線不明顯。
  該鍍膜系統(tǒng)最佳的工作參數(shù)為,工作壓力1.5Pa,磁感應(yīng)強(qiáng)度15

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