1、在MC68HC908系列的微控制器中，MC68HC908RF2是作為消費(fèi)類專用集成芯片銷售。其在交給客戶使用之前，需要將客戶的所使用的程序?qū)懭氲紽lash存儲(chǔ)器中。不難看出客戶對(duì)產(chǎn)品的使用著重于對(duì)Flash存儲(chǔ)器中程序的讀取，因而其Flash存儲(chǔ)器中數(shù)據(jù)的保持能力也就成為衡量該產(chǎn)品性能的關(guān)鍵。作為汽車電子類產(chǎn)品，通常是對(duì)微控制器所嵌入的Flash存儲(chǔ)器進(jìn)行BurnIn試驗(yàn)以滿足客戶對(duì)其功能的要求；同時(shí)將客戶程序一并寫入Flash存儲(chǔ)器中

2、。在隨后的測(cè)試中對(duì)Flash中兩字節(jié)的標(biāo)志位進(jìn)行驗(yàn)證，從而篩選出符合要求的優(yōu)良產(chǎn)品來。 該文著眼于MC68HC908RF2在遙控車鎖上的應(yīng)用，該芯片的BurnIn試驗(yàn)包含1小時(shí)的整體擦除和512次擦寫循環(huán)，以及1小時(shí)的工廠編程。但是現(xiàn)在MC68HC908在最終測(cè)試的各個(gè)溫度環(huán)節(jié)中其良品率均出現(xiàn)異常，而且高溫問題最為突出。這樣不但降低了產(chǎn)品的可靠性，還大幅增加了生產(chǎn)成本。因而解決BurnIn試驗(yàn)中的問題就顯得尤為重要。 該

3、課題是在摩托羅拉公司BAT3廠完成。公司內(nèi)有很多具有豐富知識(shí)的產(chǎn)品工程師和實(shí)際生產(chǎn)試驗(yàn)的設(shè)備維護(hù)工程師，并有課題組正在進(jìn)行此方面的研究工作；此外還有失效分析實(shí)驗(yàn)室提供專項(xiàng)技術(shù)支持。老化試驗(yàn)采用KES公司生產(chǎn)的BurnIn爐，產(chǎn)品測(cè)試使用Teradyne公司生產(chǎn)的J750測(cè)試系統(tǒng)和UTS測(cè)試機(jī)以及失效分析實(shí)驗(yàn)室里的各種試驗(yàn)儀器等。 通過對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行收集并加以分析可知，主要存在三方面的問題： 1.BurnIn板上出現(xiàn)近半數(shù)失效