1、半導體發(fā)光器件如發(fā)光二極管(LED)和激光器二極管(LD)在和人類生活相關的許多領域都獲得了廣泛應用。醫(yī)學、國防等領域的應用都對于器件質量和可靠性有非常苛刻的要求，而測量實際使用過程中器件參數的微細變化是預測器件可靠性最有效的手段，因此研究器件在使用狀態(tài)下的特性參數精確測量方法具有重要的意義。 文章介紹了LED、LD的發(fā)光機理、結構和各種特性參數的涵義，并對各特性參數的測試方法做了詳細分析。利用自己構建的測試系統(tǒng)對5mm封裝的I

2、nGaAlP基紅光和黃光LED、InGaN基綠光和藍光LED、InGaN基熒光物質轉換白光LED的V-I特性、P-I特性、空間輻射功率分布、光譜功率分布、微觀亮度、結溫．光譜的關系，還對FP型LD的V-I特性、P-I特性、遠場分布、光譜功率分布、偏振特性進行了測量。建立了完整的半導體發(fā)光器件參數測試評價手段。 在實現通用參數全面測量的基礎上，重點研究了LED顯微亮度測量方法以及結溫與光譜特性的關系。沒有吸收的光學系統(tǒng)具有亮度傳遞

3、守恒的特性，所以對于用于光學系統(tǒng)照明的LED，測量其亮度具有特殊重要的意義。利用自己建立的顯微亮度測量裝置，對5mm封裝的InGaAlP基紅光和黃光LED，InGaN基綠光和藍光LED，以及InGaN基熒光物質轉換白光LED的進行了測量。結果表明，在正向電壓大于20mA的情況下其亮度大小符合白光LED>黃光LED>綠光LED>紅光LED>藍光LED的關系。白光LED的亮度達到1．6×10<'5>(cd/mM<'2>)。 掌握LE

4、D的光譜特性與其色溫的關系，即可以在不影響燈具工作的情況下，非接觸地檢測燈具中LED的結溫，預測LED燈具的壽命。對于紅光和黃光LED，它們的峰值波長隨結溫的升高而增大，而兩者間具有非常良好的線性關系；對于熒光物質轉換的白光LED，它光譜功率分布曲線上全光譜的能量與藍光部分的能量之比(簡稱白藍比或W/B)隨結溫的升高而減小，且W/B跟結溫間具有良好的線性關系。 紅光、黃光及白光LED光譜功率分布跟結溫的這些特殊關系為非接觸光譜法