1、 論文首先對(duì)主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)進(jìn)行了深入分析和研究，包括主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)中的主動(dòng)應(yīng)用程序、執(zhí)行環(huán)境和節(jié)點(diǎn)操作系統(tǒng)等關(guān)鍵部分；其次對(duì)主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)封裝協(xié)議、主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用編程接口以及數(shù)據(jù)包在主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)中的處理過(guò)程等主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的相關(guān)內(nèi)容進(jìn)行了研究和探討，并與傳統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)中的相關(guān)內(nèi)容進(jìn)行了分析比較，指出了主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，目的在于深入了解主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的設(shè)計(jì)思想和基本功能結(jié)構(gòu)，為研究工作提供思路和方法。 通過(guò)對(duì)常用的RAID結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，指出了大容量

2、存儲(chǔ)網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)中，使用多重校驗(yàn)RAID結(jié)構(gòu)的必要性，并在對(duì)常用的多重校驗(yàn)RAID結(jié)構(gòu)進(jìn)行容錯(cuò)性和可靠性分析的基礎(chǔ)上，提出了主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)RAID結(jié)構(gòu)。通過(guò)對(duì)主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)RAID結(jié)構(gòu)的容錯(cuò)性、可靠性、I/O性能以及相關(guān)算法等進(jìn)行理論分析和測(cè)試研究，可以得出主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)RAID結(jié)構(gòu)具有可靠性、可用性和可擴(kuò)展性高等優(yōu)點(diǎn)，適合于大容量、高可靠性要求的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。 在分析和研究主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的基礎(chǔ)上，提出了基于主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的緩存模型，通過(guò)在主動(dòng)網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)中預(yù)取和緩