1、在光學(xué)光電子技術(shù)中，端面剩余反射率是光電元件的一項重要技術(shù)指標(biāo)，對元件性能起著至關(guān)重要的作用。因此一種簡便快捷的高精度的測量方法對于實際生產(chǎn)和科學(xué)研究都具有十分重要的意義。 連續(xù)光反射計法是一種簡便快捷的測量反射率的方法，在生產(chǎn)和科研中得到大量應(yīng)用。在實際應(yīng)用中，往往需要對極低的剩余反射率進行檢測，而對超低剩余反射率的測量具有很大難度?；诖耍疚膶Τ褪Ｓ喾瓷渎实臏y量方法和原理做了系統(tǒng)分析和研究，并應(yīng)用此研究成果設(shè)計制作出超低

2、剩余反射計樣機一臺。主要科研成果如下： (1)在詳細分析了反射率測量的各種方法的基礎(chǔ)上，提出了一種實用型超低剩余反射率測量系統(tǒng)的原理和總體方案，創(chuàng)新性的將雙光纖準(zhǔn)直器應(yīng)用于本系統(tǒng)，并針對其關(guān)鍵技術(shù)作了深入分析。 (2)設(shè)計了超低剩余反射率測量系統(tǒng)，詳細闡述了從總體設(shè)計到模塊設(shè)計的方法和過程。具體設(shè)計了光源模塊中的恒功率控制和恒溫控制驅(qū)動電路，光功率檢測模塊中的微弱信號檢測電路和自動量程控制電路及相關(guān)控制軟件。并且作為