1、行波管以其獨(dú)特的性能優(yōu)勢(shì)被廣泛地應(yīng)用于電子對(duì)抗系統(tǒng)中。它的性能很大程度上取決于其內(nèi)部夾持桿上衰減涂層的軸向衰減分布規(guī)律。
　　本課題所設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)能對(duì)X和Ku波段的行波管夾持桿上衰減涂層的軸向衰減分布規(guī)律進(jìn)行測(cè)試。利用測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果，我們可以有效地提高行波管的性能。本測(cè)試系統(tǒng)由微波系統(tǒng)、測(cè)試軟件和硬件三部分組成。硬件部分主要包括工控機(jī)、采集卡、時(shí)序控制卡、步進(jìn)電機(jī)和傳動(dòng)裝置。本文研制的時(shí)序控制卡包括數(shù)字和模擬電路兩部分。數(shù)字

2、電路部分采用FPGA（Field Programmable Gate Array，現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列）實(shí)現(xiàn)。FPGA采用了邏輯單元陣列（LCA, Logic Cell Array）這樣一個(gè)新概念，內(nèi)部由可配置邏輯模塊（CLB, Configurable Logic Block）、輸入輸出模塊（IOB, Input Output Block）和內(nèi)部連線（Interconnect）三個(gè)部分組成。本課題中，基于寫(xiě)入FPGA芯片里的時(shí)序控制代碼，

3、時(shí)序控制卡一旦得到上位機(jī)送來(lái)的啟動(dòng)信號(hào)，便能準(zhǔn)確地為測(cè)試系統(tǒng)中的頻率綜合器、步進(jìn)電機(jī)、采集卡等三個(gè)關(guān)鍵設(shè)備提供控制信號(hào)，以完成對(duì)它們工作時(shí)序的控制。
　　時(shí)序控制卡的模擬電路部分包括8路獨(dú)立的電路通道，其中6路用來(lái)完成對(duì)進(jìn)入采集卡的前端信號(hào)的放大和濾波。另外2路用來(lái)與時(shí)序卡外、測(cè)試系統(tǒng)中的電調(diào)衰減器和檢波器組成ALC（Auto Level Control，自動(dòng)穩(wěn)幅控制）回路，以改善測(cè)試源和測(cè)試傳感器的匹配性能（指標(biāo)的基礎(chǔ)上），使X