1、數(shù)字集成電路是當(dāng)今發(fā)展最快的技術(shù)領(lǐng)域之一。隨著VLSI技術(shù)進(jìn)入亞微米和深亞微米時代，電路日趨復(fù)雜，集成度日益增高，由此導(dǎo)致的數(shù)字集成電路復(fù)雜性急劇提高。與此同時，人們對數(shù)字集成電路的可靠性要求也越來越高，數(shù)字集成電路的測試技術(shù)也隨之得到了長足的發(fā)展，并成為保證其可靠性的決定性因素之一。因此無論在工程領(lǐng)域還是科研領(lǐng)域，研究和實現(xiàn)好的測試算法已經(jīng)成為了必要。 本文從傳統(tǒng)的單固定型故障模型入手，全面的分析了現(xiàn)有的一些組合電路測試算法理

2、論。并重點研究了FAN算法以及其相關(guān)的理論和概念， FAN算法是目前國際上公認(rèn)的比較成熟和完善的算法，研究和實現(xiàn)這個算法對于掌握電路測試矢量的生成原理和測試過程有著很大幫助。因此本文基于FAN算法設(shè)計了一個簡易的故障測試矢量生成系統(tǒng)。 為了加速測試，縮短測試矢量的產(chǎn)生時間。本文在測試系統(tǒng)中引入了SCOAP這個度量方法，在系統(tǒng)的預(yù)處理階段用SCOAP算法來確定電路中控制和觀測信號的難度，通過計算出每個節(jié)點的可控制性CC和可觀測性C

3、O來作為回退時選擇節(jié)點賦值次序以及故障傳播時選擇敏化路徑的依據(jù)。同時為了壓縮測試矢量，在系統(tǒng)中增加了故障模擬。通過對已有測試矢量的故障模擬，找到該測試矢量所能檢測到的故障，并在故障表中刪除對應(yīng)故障。通過這種方法可以減少測試生成的時間。 該算法在VC++6.0環(huán)境下實現(xiàn)，并運用benchmark標(biāo)準(zhǔn)電路ISCAS’85對系統(tǒng)做了一些測試，分析了測試時間、故障覆蓋率、回溯次數(shù)之間的關(guān)系。測試結(jié)果表明系統(tǒng)功能達(dá)到了設(shè)計要求，本系統(tǒng)可以