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![聚合物電致發(fā)光器件的老化機理和發(fā)光性能的光譜研究.pdf_第1頁](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/16/17/50019680-237f-40d4-9d87-94facbe7a955/50019680-237f-40d4-9d87-94facbe7a9551.gif)
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文檔簡介
1、聚合物發(fā)光二極管(PolymerLight-EmittingDiodes)(PLEDs)由于其在全色顯示方面潛在的應用前景,得到了越來越多的關(guān)注。雖然對于聚合物電致發(fā)光的研究開始于半個世紀前,但與此相關(guān)的很多基本問題如壽命、老化、缺陷等還沒有得到解決。本學位論文主要從三方面對ITO/PEDOT/P-PPV(poly[phenyl-substitutedp-phenylene-vinylene])/鋇(Ba)/鋁(Al)型結(jié)構(gòu)的聚合物發(fā)光
2、二極管器件的缺陷、光老化機理以及器件性能提高的途徑進行了系統(tǒng)研究。 首先,在本文的前三章中,介紹了導電聚合物的發(fā)光原理以及評價指標,同時討論了本論文用到的主要試驗方法:顯微喇曼光譜的原理及其在法庭科學上的應用一例。 其次,通過發(fā)光光譜,顯微圖像以及喇曼光譜等方法PLEDs中的黑斑缺陷進行了系統(tǒng)研究。試驗結(jié)果表明,黑斑是一種普遍存在于各種PLEDs中的缺陷,嚴重影響器件的性能。黑斑尺寸在外加電壓的驅(qū)動下會以指數(shù)規(guī)律增加,主
3、要原因在于PLEDs器件在制備過程中由于顆粒物而在陰極上形成許多間隙缺陷,這為空氣和水份擴散提供了通道,在外加電壓的驅(qū)動下,器件中的聚合物與氧氣發(fā)生電化學反應,反應產(chǎn)物破壞了聚合物與陰極的有效接觸,從而造成了黑斑的長大。同時由喇曼光譜的實驗結(jié)果可以看到,P-PPV作為一種顆粒物普遍存在于PLEDs器件中,而且在黑斑中心附近的電化學反應會破壞P-PPV的有效共軛長度,并產(chǎn)生羰基。 同時,在紫外光的長時間照射,PLEDs器件會發(fā)生不
4、可恢復的光老化;在實驗室環(huán)境下對PLEDs進行紫外光老化,將造成聚合物P-PPV的共軛主鏈斷裂,從而降低了它的有效共軛長度,增加了載流子傳輸?shù)碾娮?,并最終導致器件發(fā)光失??;有H2O存在的情況下,光老化過程主要發(fā)生在空穴傳輸層:聚合物PEDOT:PSS層。光老化使得聚合物PEDOT:PSS的摻雜性質(zhì)發(fā)生變化,因此改變了空穴傳輸層的導電特性,并最終導致器件發(fā)光失??;喇曼光譜和光致發(fā)光光譜都對共軛聚合物有效共軛長度變化非常敏感,可以作為判斷共
5、軛長度變化的簡單依據(jù)。此外,共振喇曼光譜(以He-Ne為光源)可以作為區(qū)分摻雜和去摻雜的聚合物PEDOT:PSS的一種靈敏方法。 最后,本論文通過電調(diào)制吸收光譜、電流-電壓-發(fā)光強度特性曲線等測量方法,對兩組ITO/PEDOT/MEH-PPV(P-PPV)/金屬(金屬氟化物)/鋁(Al)型結(jié)構(gòu)聚合物發(fā)光二極管器件中提高電子注入的機制進行了研究。電調(diào)制吸收光譜對不同器件內(nèi)建電場的測量的結(jié)果表明,通過降低陰極電子注入勢壘可以有效提高
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