1、近年來，我國在LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展非常迅速，在技術(shù)方面不斷取得突破，應(yīng)用越來越廣泛?，F(xiàn)階段的LED產(chǎn)業(yè)主要以芯片封裝為主，但LED的測試技術(shù)和手段相對落后，遠遠不能適應(yīng)LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展的要求。一些企業(yè)由于檢測水平低，儀器配套性差，檢測精度低，產(chǎn)品性能互相之間不可比對；一些企業(yè)所依賴的進口測試和分選設(shè)備價格很高?？傮w來說，國外LED測試儀器具有高性能，高精度的特點，國內(nèi)LED的檢測儀器在技術(shù)上還比較欠缺，檢測精度和速度都不能滿足企業(yè)的需求。這種狀

2、況對我國LED產(chǎn)業(yè)的結(jié)構(gòu)和發(fā)展十分不利。因此，自行研究LED光電參數(shù)的快速測試技術(shù)和研制智能化的LED在線測試分選設(shè)備對促進我國的LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展和提高LED的產(chǎn)品質(zhì)量具有重要的意義。 LED的光度學(xué)、色度學(xué)和電學(xué)綜合參數(shù)是衡量LED的主要技術(shù)指標。本課題主要研究LED光色電參數(shù)的快速測量技術(shù)，對LED測試技術(shù)科學(xué)化、規(guī)范化起到促進作用。 本文作者根據(jù)片狀LED檢測技術(shù)的國內(nèi)外要求，結(jié)合虛擬儀器技術(shù)和數(shù)據(jù)采集原理，開發(fā)出L

3、ED光電參數(shù)快速測試系統(tǒng)。本文主要工作如下： L在對LED光度學(xué)參數(shù)、輻射度學(xué)參數(shù)、色度學(xué)參數(shù)測量原理和測量標準深入研究的基礎(chǔ)上，提出了測量LED主波長新方法，經(jīng)綜合測試，表明此方法完全可行。 2.深入研究線性陣列CCD型光譜測試儀、硅光二極管型光譜測試儀和光電轉(zhuǎn)換器的原理，得出CCD像素與LED波長之間較為準確的對應(yīng)關(guān)系。 3.深入研究了PCI數(shù)據(jù)采集卡的功能、驅(qū)動程序、接口協(xié)議以及API函數(shù)的編寫和調(diào)用等，大