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![PZT晶片敏感元分析及性能實驗.pdf_第1頁](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/16/17/56c1cb61-d9b1-484f-bafc-66c92da981fa/56c1cb61-d9b1-484f-bafc-66c92da981fa1.gif)
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文檔簡介
1、在紅外探測技術(shù)飛速發(fā)展和廣泛應(yīng)用的今天,紅外敏感元的研究具有重大的實用價值和巨大的經(jīng)濟效益。本文主要研究的PZT(鋯鈦酸鉛)晶片敏感元就是紅外敏感元的一種。 本文推導(dǎo)了PZT晶片敏感元的理論模型,進(jìn)而分析了PZT晶片的厚度、寬度以及吸收層的面積對PZT敏感元輸出的影響,并且將標(biāo)準(zhǔn)器件參數(shù)代入理論公式驗證了理論推導(dǎo)的正確性。通過PZT晶片敏感元的分析(其中包括組分,表面形貌,結(jié)構(gòu),封裝集成等)進(jìn)而指導(dǎo)實際的制作加工。通過PZT晶片
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