DC-DC變換器抗輻照表征關鍵技術研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著DC/DC變換器空間應用越來越廣泛,抗輻照能力已經(jīng)成為其質量保證體系中的一項重要內(nèi)容。傳統(tǒng)的DC/DC變換器抗輻照能力表征方法或對器件造成損傷,或成本較高。本文探索能克服以上缺點的新表征方法。 本文深入研究了DC/DC變換器及其內(nèi)部易損單元之一——PWM控制器的輻照損傷機制和低頻噪聲特性,設計完成了DC/DC變換器和PWM控制器的電離輻照實驗,在深入分析參量退化機制的基礎上優(yōu)選了敏感表征參量,然后分別建立了DC/DC變換器和

2、PWM控制器抗輻照能力表征模型,最后,基于此模型進行了小劑量輻照-退火表征關鍵技術的研究。 通過以上工作,本論文主要結論有: 1.實驗結果表明:DC/DC變換器的輸出電壓相比其它電參量更能敏感地反映器件性能的退化,同時輸出端的噪聲參量與輸出電壓變化趨勢一致,但前者的變化幅度比后者大兩個數(shù)量級,所以選擇噪聲參量為最優(yōu)表征參量;PWM控制器輸出補償端的直流電壓和噪聲參量能有效表征器件的退化,以噪聲參量最優(yōu)。 2.DC

3、/DC變換器的輸出電壓退化是由光電耦合器的電流傳輸比下降和PWM控制器的基準電壓增大引起的;PWM控制器輸出補償電壓下降是由內(nèi)部的誤差放大器輸入級晶體管電流增益下降引起的。 3.理論推導和數(shù)據(jù)擬合結果都表明:DC/DC變換器的低頻噪聲點頻值變化很好地反映了輸出電壓的變化,因此可以用于表征DC/DC變換器抗輻照能力。而PWM控制器的噪聲模型表明:輸出補償電壓退化與器件輻照前的噪聲特性和輻照時的俘獲氧化層正電荷密度相關。 4

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