基于March C+算法的MBIST設計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著現代VLSI設計技術和制造工藝的飛速發(fā)展,片上存儲器容量日漸增大,特別是在系統(tǒng)芯片SOC設計中,將大量存儲器嵌入到片內的設計方法已經非常普遍。存儲器密度不斷增加,存儲單元面積越來越小,彼此之間越來越接近,存在故障的可能性越來越大。同時,嵌入式存儲器可能存在的故障類型越來越多,使得測試時間和測試成本都急劇增長,SOC設計的興起和發(fā)展給存儲器的可測性設計帶來巨大的挑戰(zhàn)。 存儲器內建自測試(MBIST)降低了對測試設備(ATE)的

2、要求,而且它所要求的芯片封裝引腳的數目少,并允許對嵌入式存儲器進行高速測試等優(yōu)點,所以它是目前應用最廣的存儲器測試方法。 本文分析了存儲器的故障機理和故障模型,提出實現RAM可測性設計技術路線,分析各種可測性設計方法的優(yōu)缺點。通過對存儲器算法的研究和優(yōu)化,找出合適的存儲器測試算法,即MarchC+算法。在此基礎上,設計了基于MarchC+算法的內建自測電路,給出了相應BIST電路硬件實現及其故障仿真結果?;贛archC+算法的

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