1、由于超大規(guī)模集成電路VLSI復(fù)雜性的飛速增長，VLSI電路的測試變得越來越重要。隨著片上系統(tǒng)SoC中IP核集成度的提高，測試數(shù)據(jù)量迅速增加。由于有限的測試通道寬度和大量的測試數(shù)據(jù)量，那么必須尋求更加昂貴的自動測試設(shè)備ATE，這就導(dǎo)致了測試成本的增加。如何壓縮迅猛增加的測試數(shù)據(jù)量成為目前巨大的挑戰(zhàn)之一。因此，本論文圍繞片上系統(tǒng)SoC測試數(shù)據(jù)的壓縮問題展開了研究。 測試數(shù)據(jù)壓縮是解決SoC測試問題的一種行之有效的方法，它可以用于減少

2、所需存儲的測試數(shù)據(jù)量。測試時，壓縮后的數(shù)據(jù)經(jīng)過解碼電路被還原為原始的測試向量，施加到被測電路完成測試。 編碼壓縮技術(shù)是測試數(shù)據(jù)壓縮方法的一個重要分支，目前得到廣泛的研究。本文介紹了SoC測試的相關(guān)概念和一些典型的測試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)，并作了相關(guān)分析。 本文提出了一種基于折半劃分的測試數(shù)據(jù)編碼壓縮方法，它將整個測試集劃分成若干定長塊，對非全0/1塊，使用折半的方法劃分；對全0/1塊，使用標(biāo)記位來表示劃分的次數(shù)。與傳統(tǒng)的編碼壓縮

3、方法相比，它只需要記錄數(shù)據(jù)塊被折半劃分的次數(shù)就可表示其長度，同時還具有硬件解壓結(jié)構(gòu)和通信協(xié)議簡單的優(yōu)勢。 此外，本文還在LFSR的基礎(chǔ)上作一些編碼壓縮的工作，提出了一種分類共享種子和位翻轉(zhuǎn)的測試數(shù)據(jù)壓縮方法。它根據(jù)測試集分布的特點(diǎn)，將確定位處于相同位置的測試向量分為一類，每類中向量共享一個種子，以此提高種子的利用率，達(dá)到壓縮測試集的目的。解壓縮時，通過地址信息和翻轉(zhuǎn)信號來翻轉(zhuǎn)與LFSR重播種展開序列即可獲得原測試集。該方法在壓縮