1、本論文的研究內(nèi)容是國家“863”資助項(xiàng)目“用于彩屏手機(jī)的液晶顯示驅(qū)動控制電路芯片開發(fā)”的一部分。作者以該芯片的測試和測試電路設(shè)計工作為基礎(chǔ)，結(jié)合現(xiàn)代集成電路測試和可測試設(shè)計理論，并考慮到工程應(yīng)用中的可實(shí)現(xiàn)性和可操作性，為該類型芯片的測試評價提出了一套高效率、低成本的測試解決方案。論文的主要工作如下： ·針對TFT-LCD驅(qū)動控制芯片的異步接口和控制邏輯采用了一種異步邏輯同步化的處理方法。同步化后的異步電路測試時可以引進(jìn)常規(guī)的掃描

2、測試技術(shù)，并能直接使用商業(yè)化的ATPG工具進(jìn)行測試生成，從而保證測試質(zhì)量和效率。 ·針對TFT-LCD驅(qū)動控制芯片內(nèi)置圖形SRAM特殊的測試需求，采用了一種移位存儲器的可測試設(shè)計策略，結(jié)合邏輯電路中的BIST控制器設(shè)計，可以實(shí)現(xiàn)測試過程中芯片的內(nèi)置邏輯電路和．ATE設(shè)備負(fù)載均衡。 ·針對內(nèi)置電源電路的特殊性采用了一種電源電路專用測試方法，該方法將電源電路本身的測試和芯片整體測試分開，使得芯片在大規(guī)模量產(chǎn)測試時能采用統(tǒng)一的

3、標(biāo)準(zhǔn)，保證了量產(chǎn)時的測試效率。 ·針對顯示驅(qū)動電路特殊的測試需求，選取了一套合理的測試評價指標(biāo)，利用該指標(biāo)體系對顯示驅(qū)動電路進(jìn)行評價，既可以保證測試質(zhì)量，又能提高測試效率。 ·對目前工業(yè)界具有代表性的ATE供應(yīng)商---Sdvantest公司的LCD測試系統(tǒng)進(jìn)行了介紹，并在該測試系統(tǒng)上完成了龍騰“T1”芯片的測試評價工作。本文中提到的技術(shù)和方法已被應(yīng)用于龍騰“T1”的工程測試實(shí)踐中，通過將Wafer測試結(jié)果和模組測試結(jié)果進(jìn)