C鑲嵌SiO2薄膜結(jié)構(gòu)的電流輸運(yùn)及電致發(fā)光機(jī)制研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著信息技術(shù)的迅猛發(fā)展,用光代替電作為信息的載體,加快信息的傳遞速度,已成為光通訊技術(shù)和光電子計(jì)算機(jī)發(fā)展的必然趨勢。光電子信息材料是本世紀(jì)最受關(guān)注的材料之一,光電子集成器件在信息時(shí)代有極其重要的作用。由于硅平面集成工藝己相當(dāng)成熟,所以從工藝兼容性方面考慮,用硅基材料作為發(fā)光器件將會是最佳的選擇。同時(shí),硅基材料和硅平面工藝是超大規(guī)模集成電路的核心和關(guān)鍵,納米硅晶(納米鍺晶等)在發(fā)光器件、光探測器件、光電集成以及傳感器等領(lǐng)域有更廣闊的應(yīng)用前

2、景。由于二氧化硅是硅基集成電路的鈍化膜和介質(zhì)膜,與硅基平面工藝完全兼容,如果能有效地提高納米硅/二氧化硅體系的發(fā)光效率,就可以實(shí)現(xiàn)光電集成。
   為了探索制備理想的發(fā)光材料的最佳工藝方法,并且從理論上認(rèn)清其發(fā)光機(jī)制,對優(yōu)化材料的適用條件和制備手段進(jìn)行指導(dǎo),本論文中,我們小組主要用射頻磁控濺射雙靶交替淀積技術(shù)制備了Au/(C/SiO2)/p-Si 結(jié)構(gòu)的樣品,測定了樣品在室溫下的I-V 特性曲線以及不同正(反)向偏壓下的電致發(fā)光

3、譜。對其載流子輸運(yùn)及電致發(fā)光的內(nèi)在機(jī)制進(jìn)行了研究。
   載流子輸運(yùn)機(jī)制的研究,主要是利用Au/(C/SiO2)/p-Si 結(jié)構(gòu)的I-V 特性曲線研究了該結(jié)構(gòu)的電流輸運(yùn)機(jī)制,結(jié)果表明,在較低的正向偏壓下,電流輸運(yùn)機(jī)制歐姆輸運(yùn)電流機(jī)制,而在較高的正向偏壓下,為Schottky 發(fā)射和Frenkel-Poole 發(fā)射電流兩種機(jī)制共同作用的結(jié)果,但以Schottky 發(fā)射機(jī)制為主。
   在對電致發(fā)光機(jī)制的研究中,利用位形坐標(biāo)

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