1、目的:研究不同包埋材料對全口義齒蠟型包埋前后的形變影響。
　　方法:先用標準硅橡膠陰模灌注出下頜無牙頜石膏模型,在其之上用復合樹脂人工牙及紅蠟片排出下頜總義齒。用記號筆及刻刀十字交叉標繪出四個標記點,其中三個在人工牙上,一個位于石膏模型基座上,分別為左側下頜第二磨牙遠中舌尖頂(A)、右側下頜第二磨牙遠中舌尖頂(B)、下頜右中切牙切端中點(C)、石膏模型基座后緣線中點,即磨牙后墊中1/2連線與下頜中線交點(O)。采用電子游標卡尺(精

2、度0.01mm)分別測量OA、OC、AC、AB四點距離,每個長度測3次,取均值減少誤差。將標繪好的模型隨機分為三組,每組8個。采用普通白石膏、超硬石膏、超硬石膏+硅橡膠三種不同包埋材料,分別包埋,記作組一、組二、組三。其中組一型盒內均為普通白石膏包埋,組二型盒內均為超硬石膏包埋,組三下層型盒為超硬石膏包埋,石膏固化后暴露的蠟型部分先用技工用硅橡膠(10min硬度為80±2shore-A)薄薄包埋一層(平均厚度約為1～2mm),外表面保持

3、粗糙,待硬化后填入超硬石膏直至上層型盒完全充滿。后續(xù)步驟沖蠟,填膠,熱處理保持相同實驗條件及材料。待自然冷卻后重新測量四個標記點間的距離,記作OA’、OC’、AC’、AB’,每個長度測3次,取均值減少誤差。比較OA’與OA、OC’與OC、AC’與AC、AB’與AB的變量均數并觀察義齒表面光滑度。使用SPSS19.0軟件進行數據分析,進行統(tǒng)計分析。
　　結果:組一對標記點形變量的改變最大,平均值在175μm~267μm之間,組二與組

4、三標記點形改變量略小,AB間距離(F=3.768,P=0.040)及總均數(F=4.830,P=0.019)的改變量在三種材料間差異有統(tǒng)計學意義,兩兩比較顯示,組一AB間距離及總均數的改變量均大于組二和組三,但組二與組三間差異均無統(tǒng)計學意義。三組間光滑度(χ2=17.575,P<0.001)差異具有統(tǒng)計學意義。組間兩兩比較顯示,組三的光滑度最好,組二次之,組一最差。
　　結論:
　　普通白石膏組在包埋形變上最大且表面光滑度最