1、分類號密級UDC編號桂林電子科技大學碩士學位論文題目題目基于基于USB2.0USB2.0的邊界掃描測試控制器的設計的邊界掃描測試控制器的設計（英文）（英文）TheDesignofBoundaryScanTestControllerBasedonUSB2.0研究生學號:092081133研究生姓名:董涪鑫指導教師姓名、職務指導教師姓名、職務:顏學龍教授申請學科門類:工學碩士學科、?？?、專業(yè):測試計量技術及儀器提交論文日期:2012年4月論

2、文答辯日期:2012年6月年月日摘要I摘要隨著微電子技術的飛速發(fā)展，芯片結構規(guī)模日益增大，芯片封裝卻越來越小，傳統(tǒng)的使用探針或針床對芯片通過物理接觸進行測試的方法已經(jīng)難以滿足測試要求。邊界掃描測試技術提供了一種標準的可測試性方法，解決了傳統(tǒng)的測試方法對芯片引腳的過分依賴，同時能夠支持芯片級、板級和系統(tǒng)級全方面的測試。USB接口已經(jīng)逐漸成為各種電子設備的主流接口，它支持的最高傳輸速率達到了480Mbits，并且結構簡單，即插即用，支持熱插

3、拔，總線供電，使其在測試領域迅速發(fā)展起來。基于USB2.0的邊界掃描測試控制器采用Cypress公司的CY7C68013A芯片作為接口電路的核心芯片，采用BULK傳輸方式，端點緩沖設置為雙倍緩沖。接口電路負責與主機進行通信，接收并且解釋上位機發(fā)送JTAG信號。上位機采用VC編程，實現(xiàn)了邊界掃描測試控制器的完全軟核化，上位機負責讀取測試任務文件，識別關鍵字，根據(jù)IEEE1149.1標準中的16位狀態(tài)圖產生滿足具體測試任務的時序，設計的邊界

4、掃描測試控制器有兩條掃描鏈，能夠支持單鏈測試或雙鏈測試。利用USB2.0接口和上位機組建了邊界掃描測試系統(tǒng)，通過對被測電路板進行測試驗證，測試結果表明，基于USB2.0的邊界掃描測試控制器能夠能有效的支持邊界掃描的基礎測試、INTEST測試和EXTEST測試。由于采用VC上位機編程，使基于USB12.0的邊界掃描測試控制其具有良好的擴展特性和較低的硬件開銷，具有較高的性價比，具有良好的實用性和應用前景。關鍵字關鍵字：IEEE1149.1