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文檔簡(jiǎn)介
1、<p><b> SY</b></p><p> 中華人民共和國(guó)石油工業(yè)部部標(biāo)準(zhǔn)</p><p> SY 5162—87</p><p> ───────────────────────────────</p><p> 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法</p><p> 1
2、987—08—31發(fā)布 1988—02—01實(shí)施</p><p> ───────────────────────────────</p><p> 中華人民共和國(guó)石油工業(yè)部 發(fā) 布</p><p> 中華人民共和國(guó)石油工業(yè)部部標(biāo)準(zhǔn)</p><p> SY 5162—87
3、</p><p> 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法</p><p> ───────────────────────────────</p><p> 本標(biāo)準(zhǔn)適用于砂巖、礫巖、泥巖、碳酸鹽巖、單礦物及化石等巖石樣品的分析。</p><p> 1掃描電子顯微鏡的工作原理</p><p> 聚焦高能電子束在樣品表
4、面掃描產(chǎn)生各種信息(二次電子、背散射電子、透射電子、吸收電子,等等),這些信息經(jīng)檢測(cè)器接收放大單元放大后饋送到顯示器。電子束和顯示器同步掃描,達(dá)到成象的目的。</p><p> 2 儀器、設(shè)備、材料及試劑</p><p><b> 儀器</b></p><p> a.掃描電子顯微鏡;</p><p><b&
5、gt; b.生物顯微鏡;</b></p><p><b> c.偏光顯微鏡。</b></p><p><b> 附屬設(shè)備</b></p><p><b> a.鍍膜機(jī);</b></p><p><b> b.恒溫恒濕機(jī);</b><
6、;/p><p><b> c.超聲波清洗機(jī);</b></p><p><b> d.穩(wěn)定電源。</b></p><p><b> 暗室設(shè)備</b></p><p><b> a.放大機(jī);</b></p><p><b>
7、; b.印相機(jī);</b></p><p><b> c.上光機(jī)。</b></p><p><b> 材料</b></p><p><b> a.乳膠;</b></p><p><b> b.導(dǎo)電膠;</b></p>&l
8、t;p><b> c.金:光譜純;</b></p><p><b> d.膠帶;</b></p><p><b> e.膠卷;</b></p><p> f.顯影粉、定影粉;</p><p> g.放大紙、印相紙。</p><p><
9、;b> 試劑</b></p><p><b> a.丙酮:化學(xué)純;</b></p><p><b> b.乙醚:化學(xué)純;</b></p><p> c.石油醚:化學(xué)純;</p><p> d.三氯甲烷:化學(xué)純;</p><p> e.無(wú)水乙醇:化
10、學(xué)純;</p><p><b> f.鹽酸:化學(xué)純。</b></p><p><b> 3樣品制備</b></p><p><b> 巖樣制備方法</b></p><p> a.洗油:含油樣品需用氯仿或四氯化碳抽提24h。</p><p> b
11、.選觀(guān)察面:把有代表性、平整的新鮮斷面作為觀(guān)察面。</p><p> c.酸化:用2%鹽酸浸泡,灰?guī)r浸泡3s,白云巖浸泡15s。觀(guān)察孔隙的樣品不酸化。</p><p> d.清洗:用蒸餾水或超聲波清洗。</p><p> e.上樁:把樣品粘在樣品樁上。</p><p> f.干燥:自然晾干或放入50℃恒溫箱中烘干。</p>
12、<p> g.除塵:用洗耳球吹掉表面灰塵。</p><p> h.鍍膜:在真空鍍膜機(jī)上鍍金。</p><p><b> 流程</b></p><p> 砂巖、礫巖、泥巖及火成巖樣品</p><p> 洗油→選取觀(guān)察面→上樁→干燥→除塵→鍍膜</p><p><b>
13、; 碳酸鹽巖樣品</b></p><p> 洗油→選取觀(guān)察面→酸化→清洗→上樁→干燥→除塵→鍍膜</p><p><b> 粉末樣品</b></p><p> 將粉末樣品均勻分散在粘有膠帶的樣品樁上,然后鍍膜。</p><p><b> 單礦物及化石樣品</b></p&g
14、t;<p> 把樣品按順序排列在粘有膠帶的樣品樁上,然后鍍膜。</p><p><b> 4 樣品分析</b></p><p><b> 砂巖、礫巖</b></p><p><b> 結(jié)構(gòu)</b></p><p> 在低倍鏡下觀(guān)察并拍攝有代表性的照片。
15、</p><p><b> 孔隙</b></p><p> 觀(guān)察孔隙、裂隙的特征、類(lèi)型和產(chǎn)狀;觀(guān)察孔隙大小。</p><p><b> 孔隙類(lèi)型分為:</b></p><p><b> a.粒間孔隙;</b></p><p><b>
16、 b.粒內(nèi)孔隙;</b></p><p><b> c.鑄膜孔隙;</b></p><p><b> d.膠結(jié)物內(nèi)裂隙;</b></p><p><b> e.微裂隙。</b></p><p><b> 膠結(jié)物</b></p>
17、;<p> 觀(guān)察膠結(jié)物類(lèi)型及產(chǎn)狀。</p><p><b> 類(lèi)型</b></p><p> 粘土膠結(jié)物:高嶺石為六角板狀,常呈書(shū)頁(yè)狀。蠕蟲(chóng)狀集合體(圖版1);伊利石為彎曲片狀、</p><p> 絲狀(圖版2);蒙脫石為片狀、峰窩狀、棉絮狀(圖版3);綠泥石為針葉狀,常呈絨球及玫瑰花朵狀集合體(圖版4、5、6)。<
18、/p><p> 其它膠結(jié)物有碳酸鹽膠結(jié)物(圖版7);硫酸鹽膠結(jié)物;硫化物(圖版8、9、10);還有沸石類(lèi)膠結(jié)物(圖版11、12)。</p><p><b> 產(chǎn)狀</b></p><p> 膠結(jié)物產(chǎn)狀分為充填式及襯墊式(見(jiàn)圖1A和B)。</p><p><b> 成巖后生變化</b></p
19、><p> 石英次生加大等級(jí)劃分規(guī)定為三級(jí)(見(jiàn)圖2的Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ級(jí))。</p><p><b> 溶蝕淋濾</b></p><p> 應(yīng)指出溶蝕淋濾發(fā)生部位,并對(duì)溶蝕淋濾特征進(jìn)行描述。</p><p><b> 礦物轉(zhuǎn)變</b></p><p> 應(yīng)指出是長(zhǎng)石高嶺石化或伊
20、利石化。</p><p><b> 礦物交代</b></p><p> 應(yīng)指出是白云石化,還是硅化或膏化。</p><p><b> 碳酸鹽巖</b></p><p> 粒屑形態(tài)特征及溶蝕變化。</p><p><b> 泥晶基質(zhì)組分特征。</b&g
21、t;</p><p><b> 膠結(jié)物組合特征。</b></p><p> 晶粒級(jí)別及接觸方式。</p><p><b> 晶粒級(jí)別</b></p><p> 礫晶—大于1000μm;</p><p> 粗晶—500~1000μm;</p><p
22、> 中晶—250~500μm;</p><p> 細(xì)晶—100~250μm;</p><p> 粉晶—10~100μm;</p><p> 泥晶—小于10μm。</p><p> 4.2.4.2 接觸方式:分為點(diǎn)、線(xiàn)、面及組合接觸。</p><p><b> 碳酸鹽巖的孔隙結(jié)構(gòu)</b
23、></p><p> 原生孔隙:分為粒間孔隙、晶間孔隙、生物孔隙(包括體腔孔隙、生物鉆孔、骨架孔隙)。</p><p> 次生孔隙:分為結(jié)構(gòu)選擇性孔隙(包括粒內(nèi)、鑄膜及次生粒間孔隙)非結(jié)構(gòu)選擇性孔隙(白云</p><p> 巖化孔隙、溶孔、溶洞及溶溝)。</p><p> 碳酸鹽巖的成巖后生變化</p><p
24、> 觀(guān)察分析溶蝕和交代等特征。</p><p><b> 石英顆粒特征</b></p><p> 形態(tài)特征應(yīng)分析大小和磨圓程度等。</p><p> 表面特征應(yīng)觀(guān)察分析斷口、擦痕、晶體生長(zhǎng)、撞擊坑、硅質(zhì)球和解理。</p><p><b> 泥巖</b></p><
25、p> 觀(guān)察分析粘土礦物形態(tài)特征及孔隙、裂縫。</p><p><b> 火成巖</b></p><p> 觀(guān)察分析結(jié)構(gòu)、蝕變、孔隙和裂縫等。</p><p> 4.6 孔隙鑄體觀(guān)察</p><p> 觀(guān)察分析孔隙發(fā)育、連通情況及喉道形態(tài)等。</p><p> 4.7 粉末、單
26、礦物及化石樣品</p><p> 觀(guān)察分析表面結(jié)構(gòu)及形態(tài)特征。</p><p><b> 分析結(jié)果質(zhì)量要求</b></p><p> 描述的基本要求是描述清晰、鑒定鑒定、內(nèi)容齊全、文字簡(jiǎn)明。</p><p> 照片要求圖象清晰、層次清楚。</p><p> 要認(rèn)真填寫(xiě)原始記錄,并應(yīng)符合本
27、標(biāo)準(zhǔn)附錄A的內(nèi)容規(guī)定。</p><p> 要整理分析報(bào)告,其內(nèi)容應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)附錄B的規(guī)定。</p><p><b> 附 錄 A</b></p><p> 樣品原始分析記錄表格式</p><p><b> (補(bǔ) 充 件)</b></p><p> 掃描電子顯微鏡
28、樣品原始分析記錄表</p><p> 地區(qū) 井 資料編號(hào):NO</p><p> 分析人: 分析日期: 年 月 日</p><p&
29、gt;<b> 審核人:</b></p><p><b> 附 錄 B</b></p><p><b> 分析報(bào)告表格式</b></p><p><b> ?。ㄑa(bǔ)充件)</b></p><p> 掃描電子顯微鏡分析報(bào)告表</p>
30、<p> 地區(qū) 井 資料編號(hào):NO</p><p> 分析人: 分析日期: 年 月 日</p><p><b> 審核人:&
31、lt;/b></p><p> ——————————</p><p><b> 附加說(shuō)明:</b></p><p> 本標(biāo)準(zhǔn)由石油工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出。</p><p> 本標(biāo)準(zhǔn)由石油地質(zhì)勘探專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)負(fù)責(zé)起草并技術(shù)歸口。</p><p> 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人 于眾、魏寶
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