1、隨著電子產(chǎn)品的集成性的提高，電子系統(tǒng)越來越復雜，對電子系統(tǒng)測試性的要求也越來越高。電子系統(tǒng)測試性研究主要表現(xiàn)在兩個方面：系統(tǒng)整體測試資源的配置與分配，和提高測試性研究方法的效率與精度。這對保證電子系統(tǒng)的故障診斷能力和降低系統(tǒng)測試檢修成本有著至關重要的作用。為了提高系統(tǒng)的可檢測性，通常在系統(tǒng)的設計之初就將測試性納入考慮范圍之內(nèi)。本文的主要研究工作如下：
　　1.簡單介紹了電子系統(tǒng)測試性建模方法，這是電子系統(tǒng)測試性研究的基礎。文中著重

2、介紹了多信號模型，包括多信號模型的概念、方法及優(yōu)勢，并舉例介紹了該模型對于電子系統(tǒng)的測試性建模方法。另外還介紹了不可靠測試條件下的電子系統(tǒng)測試性模型。
　　2.對序貫測試問題及其常用優(yōu)化算法進行了簡單描述，并提出基于改進遺傳規(guī)劃的序貫測試優(yōu)化算法。序貫測試問題是電子系統(tǒng)測試性研究中的一個經(jīng)典問題，當前國內(nèi)外幾乎所有關于序貫測試問題的解法都是基于啟發(fā)式搜索算法，文中以與或圖搜索AO*算法為例，對啟發(fā)式搜索算法進行了介紹。本文考慮采用

3、進化算法思想來進行序貫測試求解問題，提出了基于改進遺傳規(guī)劃的序貫測試優(yōu)化算法。該算法的基本思想在于從一群隨機生成的效果較差的故障診斷樹中進化出最優(yōu)或近優(yōu)的序貫故障搜索策略，優(yōu)化過程簡單且容易理解，實驗結果證明其優(yōu)化效果基本令人滿意。
　　3.對不可靠測試條件下的電子系統(tǒng)測試性問題進行了介紹，并提出分組編碼遺傳算法，用于解決分工序電子系統(tǒng)測試優(yōu)選問題。文中首先介紹了該問題研究的現(xiàn)實意義，然后就幾種用于解決該問題的傳統(tǒng)思想進行了描述。