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![SDIO UVM驗證IP技術(shù)的研究.pdf_第1頁](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/6/23/8867d295-850a-4218-8fda-7473a266e4c6/8867d295-850a-4218-8fda-7473a266e4c61.gif)
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文檔簡介
1、隨著集成電路的高速發(fā)展,芯片復(fù)雜度的提升,驗證在芯片設(shè)計中扮演越來越重要的角色。為了加速產(chǎn)品上市時間,需要提高驗證的速度和效率,因此對驗證的技術(shù)和方法提出了更高的要求。UVM驗證方法學(xué)提供了層次清晰的業(yè)界統(tǒng)一的驗證標(biāo)準(zhǔn),具有很多傳統(tǒng)驗證方法達不到的優(yōu)點,尤其其可復(fù)用性可加速驗證平臺的構(gòu)建。
SoC設(shè)計需要復(fù)用大量的IP核,驗證IP可用于SoC的系統(tǒng)級驗證,減少驗證工程師的工作量,加快驗證流程。SDIO接口廣泛應(yīng)用于消費類電子,
2、為移動設(shè)備提供高速、低功耗的數(shù)據(jù)存儲和應(yīng)用功能。
在研究UVM技術(shù)和分析SDIO接口標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議的基礎(chǔ)上,設(shè)計了符合標(biāo)準(zhǔn)SDIO協(xié)議的總線功能模型,并采用UVM驗證方法學(xué)設(shè)計了SDIO驗證IP中的各個組件及驗證平臺,在其中構(gòu)建了用于統(tǒng)計和收集功能覆蓋率的覆蓋率模型。最后,在覆蓋率驅(qū)動下,設(shè)計了隨機測試、基礎(chǔ)測試和錯誤測試三種測試用例在驗證平臺中對所設(shè)計的SDIO驗證IP進行仿真自測試,實現(xiàn)了100%的功能覆蓋率,測試結(jié)果表明所設(shè)計
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