磁瓦缺陷自動(dòng)檢測(cè)關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著工業(yè)機(jī)器人、高精度數(shù)控機(jī)床和新能源汽車的應(yīng)用日益廣泛,對(duì)其關(guān)鍵零部件永磁電機(jī)的質(zhì)量和性能提出了更高的要求。磁瓦的表面質(zhì)量直接影響著永磁電機(jī)的使用性能,目前針對(duì)磁瓦表面缺陷的檢測(cè)仍以人工目視檢測(cè)為主,這制約了磁瓦的生產(chǎn)效率。本文基于視覺檢測(cè)技術(shù)設(shè)計(jì)了磁瓦缺陷自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng),提高了磁瓦缺陷的檢測(cè)精度和檢測(cè)效率。
  本文首先從工藝的角度對(duì)磁瓦表面缺陷的產(chǎn)生機(jī)理進(jìn)行分析,總結(jié)了缺陷類型和對(duì)應(yīng)的缺陷特征,為后續(xù)的缺陷檢測(cè)奠定了基礎(chǔ)。視覺

2、檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)包括視覺硬件系統(tǒng)和軟件算法,對(duì)于視覺硬件系統(tǒng)的設(shè)計(jì)包括硬件的選型、圖像檢測(cè)平臺(tái)搭建、打光方式的設(shè)計(jì)和相機(jī)采集方式的確定;在視覺軟件算法上的研究包括視覺算法開發(fā)環(huán)境的選擇、相機(jī)標(biāo)定的研究、圖像預(yù)處理的研究、缺陷特征的處理分析和提取、檢測(cè)程序的開發(fā)和上位機(jī)軟件的設(shè)計(jì)。本文選取Halcon作為軟件開發(fā)平臺(tái),并基于Visual Studio開發(fā)上位機(jī)軟件。本文基于磁瓦抓取模塊、運(yùn)送模塊、檢測(cè)模塊和翻轉(zhuǎn)模塊,設(shè)計(jì)了磁瓦實(shí)時(shí)檢測(cè)機(jī)構(gòu)、

3、磁瓦驗(yàn)收檢測(cè)機(jī)構(gòu)和磁瓦缺陷檢測(cè)實(shí)驗(yàn)裝置。本文對(duì)設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)裝置進(jìn)行了理論研究、計(jì)算、選型和建模分析。本文以PLC為核心完成了實(shí)驗(yàn)裝置控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì),主要包括與上位機(jī)的通訊、直線模組定位和氣動(dòng)系統(tǒng)的控制。
  本文搭建了實(shí)驗(yàn)樣機(jī)、調(diào)試并運(yùn)行了檢測(cè)程序,其實(shí)驗(yàn)裝置運(yùn)行狀況良好。通過對(duì)磁瓦樣品進(jìn)行實(shí)驗(yàn)分析,本文發(fā)現(xiàn)各類缺陷檢測(cè)效果不一,在檢測(cè)精度為1mm的情況下,內(nèi)弧面崩塊的樣品缺陷檢測(cè)成功率高達(dá)92.30%,而樣品容量中內(nèi)弧面裂紋的缺陷

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