CdSe-TiO2納米片復合薄膜的制備及其光電性能研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、銳鈦礦型TiO2納米片陣列,不僅具有較大的比表面積,而且其活性晶面(001)面比例較高,大大增加其光敏感性和電子傳輸效率,在太陽能光電轉(zhuǎn)換領(lǐng)域具有巨大的潛力。但TiO2的禁帶寬度較大(3.2 eV),只對太陽光的紫外光區(qū)有響應(yīng),不能直接利用可見光,導致TiO2在太陽能電池領(lǐng)域的應(yīng)用受到限制。本實驗采用電化學沉積方法,將CdSe與TiO2納米片復合,以拓展TiO2對可見光的響應(yīng)光區(qū),提高其光電性能。
 ?。?)利用水熱合成法在FTO

2、導電玻璃基底上制備(001)晶面主導的TiO2納米片薄膜,考察了反應(yīng)時間、鈦源濃度、尿素含量、溶液酸度等因素對TiO2納米片形貌的影響,確定了制備TiO2納米片薄膜的最佳配比及反應(yīng)條件為:30 mL濃鹽酸、30 mL去離子水、1.5 mL鈦酸四丁酯、0.8 g尿素、0.8 g氟鈦酸銨,在180℃的溫度下反應(yīng)18 h。XRD結(jié)果表明,TiO2納米片薄膜為銳鈦礦型,且晶化程度較高;紫外可見吸收光譜證明,TiO2納米片薄膜只對紫外光有響應(yīng),根

3、據(jù)Kubelka-Munk公式計算其禁帶寬度為3.21 eV,與銳鈦礦型TiO2的本征禁帶寬度一致。
 ?。?)利用循環(huán)伏安法,以(001)晶面主導的銳鈦礦型TiO2納米片薄膜為基底,電化學沉積CdSe納米顆粒,制備了CdSe/TiO2納米片復合薄膜。研究了電化學沉積過程中SeO2濃度和沉積時間對CdSe薄膜形貌及其光電性能的影響,確定了最佳電沉積條件:沉積電位-0.9~-0.3 V,SeO2濃度為4 mmol·L-1,循環(huán)伏安法

4、循環(huán)4次。在此條件下制備的TiO2納米片復合薄膜的光電流密度達到3.14 mA·cm-2,光電轉(zhuǎn)化效率為2.87%。
  (3)氬氣保護氣氛下,分別在150、250、350和450℃對最佳條件制備下的 CdSe/TiO2納米片復合薄膜進行退火處理,研究退火溫度對CdSe/TiO2納米片復合薄膜形貌結(jié)構(gòu)及光電性能的影響。結(jié)果表明,隨著退火溫度的升高,TiO2納米片表面的CdSe顆粒發(fā)生團聚和長大,形成光滑的CdSe薄膜;CdSe為六

5、方相,晶化程度不斷提高;CdSe/TiO2納米片復合薄膜吸收光譜發(fā)生紅移,禁帶寬度由2.52 eV降低至2.06 eV;CdSe/TiO2納米片復合薄膜對可見光響應(yīng)瞬態(tài)光電流密度由2.92 mW·cm-2增大至6.96 mW·cm-2,但開路電壓由1.18 V減小至0.78 V,同時,其電流-電壓曲線變差,填充因子由0.83降低至0.37,光電轉(zhuǎn)換效率由3.12%降低至2.02%。在本實驗條件下,CdSe/TiO2納米片復合薄膜的最佳退

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