一種測量菱鎂礦中鎂元素的EDXRF新方法.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、能量色散X射線熒光分析(XRF)以其分析速度快,檢測元素范圍廣,測量時間短,樣品制備簡單,可實現(xiàn)野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等特點,在冶金機械、食品安全、材料科學、環(huán)境地質(zhì)、生物醫(yī)學等諸多領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
  菱鎂礦因具有較高的耐火性、黏結(jié)性等特點已被廣泛的應(yīng)用于冶金、建材、造紙化工、航天航空、汽車、農(nóng)牧業(yè)和輕工業(yè)、尖端科學等領(lǐng)域。菱鎂礦是提純、生產(chǎn)鎂制品的主要原材料,因此準確的測量菱鎂礦中鎂元素(Z=12)含量對菱鎂礦資源的分級

2、、開采、提純等具有指導意義。
  由于輕元素(Z=11~20)熒光產(chǎn)額、激發(fā)效率較低,應(yīng)用能量色散X射線熒光(EDXRF)分析儀不易被探測,因此改善能量色散X射線熒光分析儀對輕元素的探測效率是熒光分析領(lǐng)域一直關(guān)注的問題。目前,一般的解決方案主要從探頭、探測器、多道分析器、真空管路、控制平臺以及分析軟件等方面對儀器硬件進行了改進,對目標元素的分析仍采用傳統(tǒng)的直接測量分析方法。但是,這種提高儀器的性能的硬件改進措施,增加了設(shè)備的造價,

3、加重了儀器制造商及使用者的經(jīng)濟負擔。同時,會使儀器在使用時操作十分不便,也不易于分析儀向著便攜式、小型化方向發(fā)展。
  本文突破傳統(tǒng)的對目標元素直接分析的方法,另辟蹊徑,對菱鎂礦中鎂進行探測。利用化學方法對樣品進行前處理并與X熒光分析理論相結(jié)合,建立了一套將菱鎂礦中目標元素Mg轉(zhuǎn)換為對中等原子序數(shù)Ba進行測量的獨特分析方法,并取得了良好的研究結(jié)果,為今后的EDXRF的發(fā)展開辟了新思路。
  文章分別從熒光分析技術(shù)的現(xiàn)狀、理論

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