1、以Phillips、Van Vechten和Levine提出的二元晶體的介電理論為基礎發(fā)展起來的復雜晶體化學鍵的介電理論，在定量計算組成晶體的原子及化學鍵的性質(zhì)，進而預測材料的多種宏觀性質(zhì)方面獲得了很大的成功。我們以此理論為基礎，建立了化學鍵參數(shù)與硬度及穆斯堡爾同質(zhì)異能位移之間的定量關系，研究了微觀參數(shù)的改變引起的宏觀性質(zhì)的變化規(guī)律。
　　利用復雜晶體化學鍵的介電理論和硬度微觀理論，計算了釔鋁石榴石的硬度，其值為12.04 GPa

2、。而采用溶膠-凝膠法制備的納米級釔鋁石榴石前驅(qū)體，對其燒結(jié)并拋光后，進行顯微硬度測定，硬度值為14.50 GPa，兩者具有較高的一致性。對其他稀土石榴石的硬度和化學鍵參數(shù)也進行了計算，并發(fā)現(xiàn)化學鍵鍵長、離子性等與硬度有密切的關系，即鍵長越短，則離子性越小，硬度越大，反之亦然。對體積模量、鍵序與硬度之間的關系也進行了簡單的討論，三者具有相似的變化趨勢，即都隨晶體晶胞參數(shù)的減小而增大，所有這些關系與晶體的具體結(jié)構(gòu)密切相關。
　　在復雜

3、晶體化學鍵的介電理論基礎上，提出了更適用于層狀晶體化學鍵參數(shù)的計算方法，并計算了鑭系層狀超導體、二價鐵化合物等層狀晶體的化學鍵參數(shù)和穆斯堡爾同質(zhì)異能位移值。另外還計算了不同結(jié)構(gòu)的其他層狀化合物的化學鍵參數(shù)及其折射率，建立起化學鍵參數(shù)與同質(zhì)異能位移及折射率之間的定量關系。根據(jù)計算結(jié)果發(fā)現(xiàn)，晶胞參數(shù)及化學鍵長的變化引起化學鍵共價性、Fe2+核附近電子云密度的變化等，最終導致同質(zhì)異能位移的改變，計算結(jié)果與實驗數(shù)據(jù)之間較好的一致性驗證了此理論的