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![氮摻雜SnO-,2-薄膜生長(zhǎng)與物性研究.pdf_第1頁(yè)](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/7/23/2197e6f4-5882-460e-8bf7-6eddc1db2a3f/2197e6f4-5882-460e-8bf7-6eddc1db2a3f1.gif)
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1、二氧化錫是一種非常適合構(gòu)建紫外光電子器件和透明薄膜晶體管的氧化物半導(dǎo)體材料。本文的目的在于采用磁控濺射技術(shù)生長(zhǎng)氮摻雜SnO2薄膜,研究薄膜的光學(xué)和電學(xué)性能,探索氮摻雜實(shí)現(xiàn)p型導(dǎo)電的可行性,為構(gòu)建SnO2基光電子器件奠定了一定的基礎(chǔ)。
本文采用磁控反應(yīng)濺射的方法,以N2和O2分別作為氮源和氧源,制備氮摻雜SnO2薄膜,系統(tǒng)地研究了薄膜的光學(xué)和電學(xué)性能。首次揭示了氮摻雜SnO2薄膜中氮的位置和化學(xué)狀態(tài):氮離子部分替代SnO2晶
2、格中的氧離子,形成N-Sn-O鍵,薄膜由于氧空位被氮填補(bǔ)變得更加致密。發(fā)現(xiàn)了氮摻雜SnO2薄膜生長(zhǎng)取向依賴(lài)于沉積速率和薄膜的厚度,當(dāng)厚度小于80 nm時(shí),薄膜呈現(xiàn)[110]方向擇優(yōu)取向生長(zhǎng),當(dāng)大于170 nm時(shí)表現(xiàn)多個(gè)方向生長(zhǎng)。采用550℃襯底溫度下預(yù)先沉積20 nm厚的種子層薄膜,在400℃襯底溫度下沉積主層的兩步生長(zhǎng)法,實(shí)現(xiàn)氮摻雜SnO2薄膜的擇優(yōu)取向生長(zhǎng)。隨著N2和O2混合氣體中N2比例的增加,氮摻雜SnO2薄膜的折射率和消光系數(shù)
3、增加,光學(xué)帶隙發(fā)生紅移,并首次通過(guò)氮摻雜實(shí)現(xiàn)SnO2帶隙在紫外—可見(jiàn)光區(qū)調(diào)制。首次觀察到源于局域化激子的復(fù)合發(fā)光峰,隨著樣品溫度和激發(fā)功率增加,氮摻雜SnO2薄膜的發(fā)光峰位分別出現(xiàn)紅移和藍(lán)移的現(xiàn)象,具有典型的局域化激子發(fā)光特征,進(jìn)一步分析表明這種局域化激子是由于薄膜中化學(xué)成分和晶粒結(jié)構(gòu)分布不均勻等產(chǎn)生的勢(shì)場(chǎng)波動(dòng)和帶尾態(tài)而引起的。發(fā)現(xiàn)了擇優(yōu)取向氮摻雜SnO2薄膜源于Fabry-Pérot光學(xué)微腔干涉的角度依賴(lài)光致發(fā)光的現(xiàn)象,并基于Fabr
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