大功率射頻LDMOS器件設(shè)計(jì)優(yōu)化與建模.pdf_第1頁(yè)
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1、LDMOS(Lateral Double Diffused Metal Oxide Semiconductor)器件以其各方面的優(yōu)勢(shì)已經(jīng)基本取代雙極型器件成為射頻領(lǐng)域的主流技術(shù),由于RF LDMOS器件巨大的市場(chǎng)前景和重要的軍用價(jià)值,成為了半導(dǎo)體行業(yè)研究的熱點(diǎn),我國(guó)也已展開了對(duì)硅基RF LDMOS器件的研發(fā)工作。
  本設(shè)計(jì)的目標(biāo)是獲得一款大功率RF LDMOS器件,該器件采用雙層源極場(chǎng)板和背面源結(jié)構(gòu),利用半導(dǎo)體仿真軟件優(yōu)化設(shè)計(jì)器

2、件結(jié)構(gòu)和各區(qū)域雜質(zhì)注入劑量,使器件具有較好的直流特性和頻率特性,然后根據(jù)器件具體結(jié)構(gòu)繪制器件版圖,并在上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司完成器件的制造。對(duì)小柵寬器件的直流測(cè)試結(jié)果表明,器件擊穿電壓大于100V,飽和電流密度大于180μA/μm,閾值電壓約為2.2V,對(duì)大柵寬封裝器件的測(cè)試結(jié)果表明,在頻率為1090MHz、漏源電壓為50V的測(cè)試條件下,器件最大輸出功率達(dá)到500W,效率達(dá)到45%,增益達(dá)到18dB,達(dá)到了設(shè)計(jì)指標(biāo)的要求。

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