1、薄膜失穩(wěn)因其在工程實踐和日常生活中普遍存在而受到廣泛研究。利用薄膜失穩(wěn)可以構造特定形貌的表面斑圖，也可以通過壓痕實驗產(chǎn)生表面失穩(wěn)從而得到材料的力學參數(shù)。然而，由于微納米尺度下材料的力學性能表現(xiàn)出尺寸效應，因此，如何表征尺寸效應成為研究的重點；另一方面，研究如何通過實驗測定材料的尺寸效應也十分重要。同時，目前大量的研究集中在液滴的毛細力作用下薄膜的屈曲失穩(wěn)，對于壓頭作用下的薄膜失穩(wěn)，現(xiàn)在還缺乏相關的理論研究。
　　因此，針對上述現(xiàn)狀

2、，本文首先基于能量變分原理，利用線性擾動分析，在考慮界面滑移和表面能的情況下，研究了薄膜基底系統(tǒng)失穩(wěn)的臨界應變與材料參數(shù)之間的關系。發(fā)現(xiàn)基底的泊松比與界面的相對滑移對臨界應變幾乎沒有影響，因此為了簡化模型，本文可以假定薄膜與基底完好粘接且基底為不可壓縮材料。然而，當薄膜厚度僅幾個納米時，表/界面效應會對薄膜失穩(wěn)的臨界波長產(chǎn)生顯著影響；此外，本文還為利用薄膜在軟基底上的屈曲失穩(wěn)測量材料的表/界面參數(shù)提供了可靠的方法。
　　之后，本文