1、隨著半導(dǎo)體工藝尺寸的不斷縮減、電路工作頻率和集成度的不斷提升,數(shù)字集成電路對老化故障及軟錯誤越來越敏感,進而引發(fā)了一系列的可靠性問題,如電路性能降低甚至功能失效等。尤其是在電子通訊、軍事、航空航天、生物工程以及醫(yī)藥等高端技術(shù)領(lǐng)域,如何發(fā)現(xiàn)和避免老化和軟錯誤的發(fā)生成為設(shè)計者的首要考慮問題。本論文以提高電路可靠性為切入點,針對老化故障及軟錯誤的在線檢測技術(shù)進行了研究,主要工作如下:
　　1、學(xué)習(xí)研究老化和軟錯誤的相關(guān)概念及近年來與本文

2、相關(guān)的研究成果,對兩者的產(chǎn)生機理進行了詳細的分析,對現(xiàn)有解決方法進行了分類,并就各種方法的優(yōu)缺點進行了分析比較。
　　2、針對電路老化的積累效應(yīng),提出了一種具有可配置延遲單元的抗老化的老化預(yù)測電路,并將其中的穩(wěn)定性校驗器和鎖存器的功能進行了整合。在老化的不同時期,針對老化程度,動態(tài)調(diào)節(jié)延遲單元的延遲大小,得到不同的保護帶寬度,從而提高老化預(yù)測的準(zhǔn)確率并解決了以往設(shè)計中監(jiān)測帶大小不好控制的問題。且通過反饋電路達到對穩(wěn)定性校驗器的輸出

3、進行鎖存的目的。與經(jīng)典結(jié)構(gòu)相比,電路在面積上平均優(yōu)化約20.6％,在功耗方面減少36%左右。Hspice模擬器的仿真結(jié)果證實了電路的優(yōu)越性。
　　3、依據(jù)老化,軟錯誤等故障均可轉(zhuǎn)化為時序違規(guī)信號,本文提出了一種具備老化容忍能力的低功耗多故障檢測結(jié)構(gòu),可并發(fā)在線監(jiān)測老化故障和軟錯誤,解決了以往監(jiān)測結(jié)構(gòu)只能處理單種故障或功耗面積等開銷過大以及不能進行老化容忍的問題,使檢測結(jié)果更加全面準(zhǔn)確。Hspice仿真結(jié)果表明該方案具有良好的檢測功