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![數(shù)字集成電路中的老化預測傳感器設(shè)計.pdf_第1頁](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/6/23/5b150f6c-0351-444c-a713-b8d569970732/5b150f6c-0351-444c-a713-b8d5699707321.gif)
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文檔簡介
1、微電子技術(shù)已經(jīng)成為21世紀不可或缺的技術(shù),與我們的生活息息相關(guān)。它是計算技術(shù)、自動控制、納米、通信技術(shù)的基礎(chǔ)。集成度的日益提高,特征工藝尺寸的不斷縮小,性能與功耗的同步增長以及由負偏置不穩(wěn)定效應(yīng)引起的老化已經(jīng)成為影響集成電路可靠性的重要因素。
論文首先介紹了影響集成電路可靠性的原因以及主要因素。影響集成電路可靠性的主要因素有電路老化和軟錯誤,本文通過具體的案例分析了老化和軟錯誤防護方法;另一方面,老化的防護方法又可分為老化檢測
2、和老化預測兩種,論文分別通過電路時序圖分析了老化預測和老化檢測的工作機理,并通過具體的圖表分析了二者的優(yōu)缺點。
其次,論文針對傳統(tǒng)老化預測傳感器結(jié)構(gòu)的不足,提出了一種容軟錯誤的可編程老化預測傳感器,該新型老化預測傳感器將軟錯誤的保護方法引入到老化預測的結(jié)構(gòu)之中,使傳感器的結(jié)構(gòu)不僅能夠預測電路的老化,同時能夠抵抗軟錯誤;在此傳感器的構(gòu)架中引入的延遲單元通過改變其接地的開關(guān)的數(shù)量來達到改變保護區(qū)域?qū)挾鹊哪康?,最終使得保護區(qū)域達到可
3、編程的目的。
論文還提出了一種保護區(qū)域?qū)挾瓤烧{(diào)控的老化預測傳感器,該新型老化預測傳感器在老化檢測技術(shù)的基礎(chǔ)上加以改進,使該傳感器具備老化預測的功能;同時可以通過改變輸入時鐘信號的波形來達到改變保護區(qū)域?qū)挾鹊哪康?在該傳感器的輸出部分采用C單元來替代傳統(tǒng)的鎖存器,使整個觸感器的面積開銷有所降低。
論文最后運用電路仿真軟件對本文提出的傳感器進行仿真,通過在不同的情況下的實驗數(shù)據(jù)來觀察該傳感器對于老化和軟錯誤的抵抗能力。同
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