基于相位偏折的高反射物體三維測(cè)量中相位展開(kāi)技術(shù)研究.pdf_第1頁(yè)
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1、在光學(xué)三維測(cè)量中面結(jié)構(gòu)光技術(shù)以測(cè)量范圍大、速度快、精度高等優(yōu)點(diǎn)在漫反射物體中得到了廣泛使用,但用其測(cè)量高反射物體的技術(shù)還不成熟。對(duì)于高反射物體,國(guó)內(nèi)外還沒(méi)有對(duì)其面形評(píng)定的標(biāo)準(zhǔn),測(cè)量技術(shù)已經(jīng)滯后于工業(yè)生產(chǎn)的需求。本文采用光柵相位偏折技術(shù)完成高反射物體的三維測(cè)量,該方法采用LCD顯示器作為數(shù)字光柵顯示設(shè)備,CCD攝像機(jī)作為圖像采集設(shè)備,通過(guò)計(jì)算被測(cè)高反射物體和標(biāo)準(zhǔn)平面鏡中光柵虛像對(duì)應(yīng)相位的偏折信息結(jié)合重建算法完成測(cè)量。但是,從光柵圖像中只能

2、直接得到折疊相位,而相位偏折技術(shù)需要對(duì)應(yīng)的展開(kāi)相位。
  本論文主要研究用相位偏折技術(shù)測(cè)量高反射物體三維形貌時(shí)如何通過(guò)測(cè)量系統(tǒng)高效率地得到編碼光柵以及如何精確、快速地從光柵條紋圖像中得到所需要的展開(kāi)相位信息。論文的主要內(nèi)容包括以下幾個(gè)方面:
  1、分析了基于光柵相位偏折的高反射物體三維形貌測(cè)量的原理,并以此模型為基礎(chǔ)搭建了測(cè)量系統(tǒng),理論和實(shí)驗(yàn)表明該方法的可行性。
  2、分析了相位展開(kāi)的數(shù)學(xué)表示,對(duì)時(shí)域相位展開(kāi)算法中

3、的線性遞增法、指數(shù)遞增法和空域相位展開(kāi)中的最小二乘法、中心攝動(dòng)法、分支切割法的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行了討論,并用模擬和實(shí)驗(yàn)進(jìn)行了驗(yàn)證。
  3、提出了一種結(jié)合攝動(dòng)光柵的調(diào)制度排序相位展開(kāi)算法。首先由攝動(dòng)光柵確定相位展開(kāi)起點(diǎn)的真實(shí)相位,然后根據(jù)各像素點(diǎn)的調(diào)制度大小確定相位展開(kāi)路徑,避免了常規(guī)方法中人為干預(yù)的缺點(diǎn),實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化測(cè)量。
  4、提出了一種改進(jìn)的復(fù)合光柵編碼方法,將攝動(dòng)光柵和相移光柵有機(jī)地整合到一幅光柵圖像中。把CCD采集的復(fù)合

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