1、本文以SOT封裝類型芯片為實驗對象設(shè)計了一套基于機器視覺的缺陷檢測系統(tǒng)，該檢測系統(tǒng)旨在通過圖像處理的方法實現(xiàn)對3～6只引腳的SOT(Small-Outline Transistor)封裝類型芯片的印刷字符和引腳的缺陷檢測和缺陷類型分類。
　　本課題并從工作臺的設(shè)計、工業(yè)相機和鏡頭選型、實驗平臺的搭建到軟件系統(tǒng)等方面進行了設(shè)計，并設(shè)計了平面檢測模塊和五邊檢測模塊，平面檢測模塊負責對字符缺陷和部分引腳缺陷進行檢測，五邊檢測模塊負責對引

2、腳其余缺陷進行檢測，每個模塊都包括相應(yīng)的圖像采集控制、圖像處理和缺陷分類、區(qū)域選擇、圖像處理參數(shù)學習向?qū)?、像素當量標定、芯片?guī)格設(shè)定、數(shù)據(jù)庫存儲、串口通訊和相機控制模塊等。
　　字符缺陷檢測中，在對傳統(tǒng)模板匹配算法的基礎(chǔ)上對原圖像進行縮放和動態(tài)更新檢測區(qū)間降低模板匹配計算量，并設(shè)計了投影方法對單個字符位置進行檢測，結(jié)合模板匹配位置參數(shù)、投影分割位置參數(shù)和字符完整度參數(shù)對字符缺陷類型進行判斷。
　　引腳缺陷檢測中，在平面圖像中

3、引腳區(qū)域進行輪廓檢測，并根據(jù)輪廓面積和輪廓長度進行篩選合適的輪廓，將合理的輪廓組合出引腳的實際尺寸;在五邊圖像中對引腳區(qū)域圖像進行投影分割，根據(jù)投影直方圖及其梯度圖進行引腳的位置和尺寸測量，根據(jù)測量結(jié)果對引腳缺陷進行判斷。
　　本課題還設(shè)計了多線程的圖像處理方法，根據(jù)程序執(zhí)行先后順序?qū)?shù)據(jù)通信、圖像采集、圖像處理、圖像分析等功能模塊分別封裝到線程函數(shù)中，通過線程控制實現(xiàn)平面檢測模塊和五邊檢測模塊的并行運行、同一模塊中不同芯片檢測的