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![硅基阻性存儲(chǔ)器特性及其滲流通道型開關(guān)機(jī)理研究.pdf_第1頁(yè)](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/14/17/0b46b19d-6298-47c7-a4bf-6763e9dedb15/0b46b19d-6298-47c7-a4bf-6763e9dedb151.gif)
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文檔簡(jiǎn)介
1、阻性隨機(jī)存儲(chǔ)器(阻性存儲(chǔ)器)同時(shí)結(jié)合了Flash的高密度和DRAM的快速和耐用性特點(diǎn),另外還具有低能耗、轉(zhuǎn)換速度快、微縮特性優(yōu)異(10nm以下)等突出優(yōu)勢(shì),成為下一代存儲(chǔ)技術(shù)的代表之一。硅基阻性存儲(chǔ)器因?yàn)橹谱骱?jiǎn)單,可靠性高,與當(dāng)前的CMOS工藝相容等特點(diǎn)得到了廣泛關(guān)注。本文研究了Ag/a-silicon/p-silicon,Ag/SixC1-x/p-silicon兩種結(jié)構(gòu)阻性存儲(chǔ)器的變阻特性及其狀態(tài)轉(zhuǎn)換機(jī)制。
本文首先對(duì)半導(dǎo)體
2、存儲(chǔ)器的發(fā)展及研究現(xiàn)狀予以介紹,簡(jiǎn)單分析了各種類型半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的優(yōu)缺點(diǎn)及其應(yīng)用范圍,介紹了阻性存儲(chǔ)器及相關(guān)的幾種導(dǎo)通機(jī)制。接著介紹了阻變式非易失性存儲(chǔ)器(阻性存儲(chǔ)器)的主要性能參數(shù),器件的制作過(guò)程,I-V特性曲線,傅里葉紅外光譜(FTIR),電化學(xué)阻抗譜等分析手段。最后對(duì)兩種器件分別進(jìn)行討論,根據(jù)I-V特性曲線set/reset過(guò)程緩變的特性,提出器件的狀態(tài)轉(zhuǎn)換過(guò)程與細(xì)絲型導(dǎo)電通道的建立無(wú)關(guān),而是滲流通道的建立過(guò)程。
兩類硅基
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