1、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,新電子產(chǎn)品的電路板密度大、元件管腳密集、測(cè)試點(diǎn)少,傳統(tǒng)的ICT測(cè)試(In Circuit Test在線測(cè)試)由于依賴于針床技術(shù),已經(jīng)無(wú)法滿足電子產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試需求,因此邊界掃描技術(shù)就應(yīng)運(yùn)而生,ICT測(cè)試與邊界掃描測(cè)試的結(jié)合大大提高了ICT測(cè)試的可測(cè)率,但是越來(lái)越復(fù)雜的電路系統(tǒng)使得所需要的ICT邊界掃描測(cè)試矢量越來(lái)越多,這樣ICT邊界掃描測(cè)試的測(cè)試時(shí)間就不斷增加,測(cè)試效率越來(lái)越低。
　　本研究針對(duì)ICT業(yè)界所面臨

2、的關(guān)鍵問(wèn)題進(jìn)行邊界掃描技術(shù)在ICT測(cè)試中應(yīng)用的進(jìn)一步研究,從邊界掃描測(cè)試的原理、ICT測(cè)試的原理以及ICT邊界掃描測(cè)試矢量生成的數(shù)學(xué)原理著手,通過(guò)各種測(cè)試矢量生成方法的對(duì)比,并結(jié)合ICT特有的保護(hù)二極管測(cè)試,選取采用窮舉法生成測(cè)試矢量,然后使用矢量分割法減少測(cè)試矢量,同時(shí)利用保護(hù)二極管測(cè)試進(jìn)一步減少測(cè)試矢量,從而提高ICT邊界掃描測(cè)試效率。以實(shí)際生產(chǎn)中的電子產(chǎn)品作為優(yōu)化實(shí)驗(yàn)對(duì)象,該產(chǎn)品中有應(yīng)用到典型的具有邊界掃描機(jī)制的元件。優(yōu)化實(shí)驗(yàn)是在